[发明专利]太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法

权利要求书

1.一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，涉及到探测器、电压电流测量设备和数据采集系统，其特征在于，该方法还包括如下处理步骤，

步骤1：将探测器正对太阳模拟器的发光面，采集太阳模拟器辐照度强度变化信号；

步骤2：在测试点连续测量若干次，获得各次测量的测量值，通过测量值计算获得太阳模拟器辐照不均匀度的A类评定标准不确定度；

步骤3：测量计算太阳模拟器辐照度不均匀度B类评定的不确定度，包括探测器不稳定度引入的不确定度，太阳模拟器引入的不确定度，数据采集系统引起的不确定度；

步骤4：将A类评定标准不确定度与B类评定的不确定度计算合成标准不确定度及相对扩展不确定度。

2.根据权利要求1所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：在步骤1中，将探测器正对太阳模拟器的发光面后，通过数据采集系统采集太阳模拟器辐照下探测器的短路电流经I-V转换后的信号，从而实现采集太阳模拟器辐照度强度变化信号。

3.根据权利要求1所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：在步骤2中，通过测试点的电压测试值计算太阳模拟器辐照不均匀度的A类评定标准不确定度，计算式为，

其中，V_i为测试点电压测试值，为测试点电压测试值的平均值，u_A为A类评定标准不确定度分量，u_Arel为A类评定标准不确定度。

4.根据权利要求3所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：在步骤3中，所述探测器不稳定度引入的不确定度通过将探测器放置于高稳定度光源下，稳定设定的时间后，测量探测器输出信号并且根据测量的最大电流和最小电流通过计算获得，计算公式为，

u_1rel＝(I_max–I_min)/(I_max+I_min)×100％，

其中，I_max为最大电流，I_min为最小电流，u_1rel为探测器不稳定度引入的不确定度。

5.根据权利要求4所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：在步骤3中，所述太阳模拟器引入的不确定度根据太阳模拟器检定/校准证书的校准不确定度计算获得，计算公式为，

u_2rel＝U'_rel/k，

其中，U'_rel为太阳模拟器检定/校准证书的校准不确定度，k为太阳模拟器检定/校准证书的校准不确定度的包含因子，u_2rel为太阳模拟器引入的不确定度。

6.根据权利要求5所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：在步骤3中，所述数据采集系统引起的不确定度根据数据采集系统检定/校准证书的校准精确度，按矩形分布计算获得，计算公式为，

其中，U₃为数据采集系统检定/校准证书的校准精确度，u_3rel为数据采集系统引起的不确定度。

7.根据权利要求6所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：在步骤4中，所述标准不确定度的计算公式为，

其中，u_crel标准不确定度。

8.根据权利要求7所述的一种太阳模拟器辐照度不均匀度校准方法，其特征在于：所述相对扩展不确定度的计算公式为，

U_rel＝u_crel*k，

其中，U_rel为相对扩展不确定度。