[发明专利]一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法

权利要求书

1.一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法，其步骤为：

1)将选取的内壁为高反射Tyvek材料的探测器里充满空气，并设置一个光电倍增管；其中，该探测器为圆柱形探测器；

2)利用选取的光源在该探测器里照射，用所述光电倍增管采集光信号；

3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；

4)利用公式1/λ’＝-ln(f)/L-ln(r)/L拟合有效衰减长度λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，通过拟合测量出Tyvek的反射率和光在该探测器里的平均反射步长L；其中，f为该探测器内壁材料的反射率。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该探测器内壁反射面的反射率大于90％且以漫反射为主。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该探测器的内径大于50cm、高度大于70cm。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据N＝N₀e^-x/λ’得到不同反射面积时的该圆柱形探测器对应的有效衰减长度λ’，N为根据采集的光信号确定的N₀个入射光子在该圆柱形探测器里运动距离x后剩余的光子数。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，侧壁竖长条方式改变Tyvek反射面积，每一次测量时所述Tyvek反射比例r均大于90％。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，探测器里的介质里为纯净空气。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，光在探测器介质里的吸收长度大于500米。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤4)中，首先根据步骤3)得到的数据拟合出不同反射面积时1/(-ln(f)/L-ln(r)/L)的结果即有效衰减长度λ’的值，然后利用公式1/λ’＝-ln(f)/L-ln(r)/L拟合有效衰减长度λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，通过拟合测量出空气中Tyvek的反射率和光在该探测器里的平均反射步长L。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该探测器内壁反射面为高反射Tyvek。