[发明专利]度量FPGA软件静态质量的方法在审
申请号: | 201710405699.3 | 申请日: | 2017-06-01 |
公开(公告)号: | CN107341101A | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 李晨阳;孙肖;陈晟飞;王静 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 度量 fpga 软件 静态 质量 方法 | ||
1.一种度量FPGA软件静态质量的方法,其特征在于包括如下步骤,第1步,分析度量元:在包含VHDL和Verilog两种语言的FPGA软件中,分析评价违反的度量元组成类型,筛选出体现软件质量价值的度量元,设定度量元及其度量元加权系数,对FPGA软件度量元进行分类加权,并对软件代码质量影响大且与其它度量元相差大的则赋予较大的数值;第2步,度量元计算:根据对代码质量带来的影响程度分别对VHDL和Verilog语言选出体现覆盖面广且影响程度高的评价规则集,提取度量元相关加权系数,依据对质量影响的严重程度,按照度量元缺陷严重性等级的不同进行不同的加权比,确定评价度量元的数量,建立分析度量元和FPGA软件质量评价模型和FPGA软件规则集分类附录表;第3步,度量结果评价:根据参考标准GJB 2423A的故障统计次数,计算出度量元缺陷总数A和度量元与规定的度量元比分,提出度量计算公式、评价规则和评价流程,运用度量元缺陷总数计算公式和评价规则,给出度量评价结果,输出FPGA软件质量度量的分值和归一化处理的分值区间分布。
2.如权利要求1所述的度量FPGA软件静态质量的方法,其特征在于:在包含VHDL和Verilog两种语言FPGA软件中,将对应规则分为VHDL和Verilog两者混合的语言,度量元将两者规则集混合起来统计,根据选取规则集及其包含的具体规则对FPGA软件度量元分类,Ⅰ类~Ⅴ类规则度量元加权表。
3.如权利要求1所述的度量FPGA软件静态质量的方法,其特征在于:选取度量元的每个成员函数的准则值对所属类准则值,依据对质量影响的严重程度按照度量元缺陷严重性等级的不同而进行不同的加权比,按照参考标准GJB 2423A,计算每个度量元缺陷发生的数量和故障统计次数及其度量元缺陷总数A,计算出FPGA软件度量元的加权系数,
式中:pj为某类度量元缺陷的加权系数;rj为某类度量元缺陷发生的次数;j为度量元缺陷类型;n为度量元缺陷类型数。
4.如权利要求3所述的度量FPGA软件静态质量的方法,其特征在于:在参考标准GJB2423A中描述,对度量元缺陷进行分类、定级,分析度量元缺陷,对FPGA软件度量元进行分类加权。
5.如权利要求1所述的度量FPGA软件静态质量的方法,其特征在于:创建Ⅰ类~Ⅴ类规则度量元加权表,依据Ⅰ类~Ⅴ类规则度量元加权表,计算FPGA软件度量,计算出最终FPGA软件质量度量值:
式中B是参照GJB 16260标准对代码质量评价计算公式:
X=1-A/B(3)
将公式(1)代入公式(3)得出公式(2),A定义为在测试中规定的可靠性的依从性还未完全实现的项数,B定义为规定的可靠性的依从性项总数。
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