[发明专利]一种简单有效地抑制荧光干扰的光调制反射光谱检测系统

权利要求书

1.一种简单有效地抑制荧光干扰的光调制反射光谱检测系统，包括宽波段白光源(1)，消色差光学缩束器(2)，探测光聚焦透镜(3)，激光聚焦透镜(4)，样品平移台(5)，可变光阑(6)，长焦光学收集耦合组件(7)，滤波片(8)，单色仪(9)，锁相放大器(10)，激光器(11)，光学斩波器(12)，其特征在于：

被检测样品放置于探测光聚焦透镜(3)前焦平面处的样品平移台(5)上，所述的宽波段白光源(1)所发射出的白光作为探测光，探测光经过高缩束比的消色差光学缩束器(2)缩束后聚焦到测试样品表面，同时激光器(11)发射的泵浦激光经过光学斩波器(12)调制后，经激光聚焦透镜(4)入射到样品表面并能完全覆盖前述探测光光斑；探测光光束经样品反射后并经过可变光阑(6)过滤后被长焦光学收集耦合组件(7)收集，经滤波片(8)导入单色仪(9)，最后信号输入锁相放大器(10)，获取调制反射光谱信号；

其中，通过减小长焦光学收集耦合组件(7)的有效数值孔径，大大降低泵浦激光所激发的荧光信号收集效率；通过调节可变光阑(6)大小保证反射光束强度几乎不受影响，有效抑制荧光信号对调制信号的干扰。