[发明专利]在金属化可变形衬底上的低力电触头有效
申请号: | 201710411523.9 | 申请日: | 2014-03-12 |
公开(公告)号: | CN107255663B | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | M.C.绍尔斯 | 申请(专利权)人: | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
主分类号: | G01N27/327 | 分类号: | G01N27/327 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李晨;谭祐祥 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属化 变形 衬底 低力电触头 | ||
1.一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统,其包括:
测试条,所述测试条用于接纳生物流体的样本并且在其上形成有触头;以及
流体分析测试装置,所述流体分析测试装置具有用于在所述测试条在插入方向上移动时接纳所述测试条的连接器,所述连接器包括:
梁,所述梁由对准以直接地接触所述触头的表面的平板形成,所述梁在所述测试条在所述插入方向上移动时沿着所述触头拖过;以及
所述梁的压印边缘,每个所述压印边缘限定使所述梁的与所述测试条接触的部分的压力面积最小化的双向弯曲表面。
2.根据权利要求1所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统,其中,所述流体分析测试装置还包括:具有多个导电条的电路板。
3.根据权利要求2所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统,其还包括连接器组件,所述连接器组件具有安装至所述电路板的连接器组件主体,所述梁位于所述连接器组件主体中。
4.根据权利要求3所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统,其中,所述梁包括固定地连接至所述连接器组件主体的导体接触主体。
5.根据权利要求4所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统,其中,所述梁一体地连接至所述导体接触主体,并且所述梁完全在所述插入方向上延伸,当与所述测试条触头直接地接触时,所述梁偏转。
6.根据权利要求3所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统,其中,所述连接器组件主体包括槽,所述槽在所述测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳所述测试条,所述测试位置是当所述测试条部分地位于所述连接器组件主体内时限定的。
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