[发明专利]模拟信号的采样方法及采样装置

说明书

本发明公开了一种模拟信号的采样方法，包括：响应对高频模拟信号和低频模拟信号的采样请求，同时启动高频定时器和低频定时器进行计时工作；其中，所述高频定时器的计时从第一计时初始值开始计时到高频定时周期时清零并重新从零计时；所述低频定时器的计时从第二计时初始值开始计时到低频定时周期时清零并重新从零计时；所述低频定时周期为所述高频定时周期的整数倍，所述第一计时初始值与所述第二计时初始值的差值大于零且不与所述高频定时周期成倍数关系；当检测到计时值为零时触发采样模块对模拟信号进行采样。相应地，本发明还公开了一种模拟信号的采样装置。采用本发明实施例，提高模拟信号采样的准确性，避免低频采样影响高频采样。

技术领域

本发明涉及模拟信号采样技术领域，尤其涉及一种模拟信号的采样方法及采样装置。

背景技术

在模拟信号电路中，往往需要对电路上的元件进行模拟信号采集，又称AD采集。而对于存在多路AD采集的电路，有几十kHz的高频信号采集，也有一点几kHz的低频信号采集，甚至还存在采集频率较慢的温度采集。在高频信号采集时是不能被干扰的，即使是几百纳秒的干扰，也会造成较大的采集误差。现有技术中的高频信号采集、低频信号采集以及温度采集各自按照其采集周期进行采集，但在某些情况下，低频信号采集和温度采集会影响高频信号采集，不仅会使采集出现偏差，还会导致控制上的一些采样信号出现尖峰的情况。

发明内容

本发明实施例提出的一种模拟信号的采样方法及采样装置，提高模拟信号采样的准确性，避免低频采样影响高频采样。

本发明实施例提出一种模拟信号的采样方法，包括：

响应对高频模拟信号和低频模拟信号的采样请求，同时启动高频定时器和低频定时器进行计时工作；其中，所述高频定时器的计时从第一计时初始值开始计时到高频定时周期的数值时清零并周期性地从零计时至所述高频定时周期的数值；所述低频定时器的计时从第二计时初始值开始计时到低频定时周期的数值时清零并周期性地从零计时至所述低频定时周期的数值；所述低频定时周期为所述高频定时周期的N倍，所述第一计时初始值与所述第二计时初始值的差值大于零且不与所述高频定时周期成整数倍数关系；N为整数值；

实时获取所述高频定时器的计时值和所述低频定时器的计时值；

当获取到的高频定时器的定时值为零时，生成高频采样信号并发送给高频采样模块，以触发所述高频采样模块对高频模拟信号进行采样；

当获取到的低频定时器的定时值为零时，生成低频采样信号并发送给低频采样模块，以触发所述低频采样模块对低频模拟信号进行采样。

进一步地，所述采样方法还包括：

当生成温度采样信号时，读取当前所述高频定时器的计时值和所述低频定时器的计时值；

判断所述高频定时器的计时值是否在预设的第一区间内，以及判断所述低频定时器的计时值是否在预设的第二区间内；其中，所述第一区间为[A-K,A]∪[0,K]，所述第二区间为[B-K,B]∪[0,K]，A为所述高频定时周期，B为所述低频定时周期，K为偏移所述高频定时周期或偏移所述低频定时周期的偏移值；

当所述高频定时器的计时值不在预设的第一区间，且所述低频定时器的计时值不在预设的第二区间时，将所述温度采样信号发送给温度采样模块，以触发所述温度采样模块采样温度传感器上的温度值。

进一步地，所述生成温度采样信号的过程为：

响应对工作环境的温度的采样请求，启动温度定时器进行计时工作；所述温度定时器的计时是从零开始计时到温度定时值时清零并重新从零开始计时；

实时获取所述温度定时器的计时值；

当获取到的所述温度定时器的计时值为零时，生成温度采样信号。