[发明专利]光纤应变测试仪的校准装置及设备

说明书

本发明公开了一种光纤应变测试仪的校准装置及设备，所述校准装置包括应变量控制模块，所述应变量控制模块包括温度控制器和可拆卸的光纤盘，所述光纤盘绕设有第一长度的标准光纤；所述应变量控制模块用于通过所述温度控制器控制所述光纤盘内绕设的具有第一长度的标准光纤的温度变化以改变所述具有第一长度的标准光纤的应变量。采用本发明的实施例的校准装置获得了体积小、结构简单、方便实用并提高了用户体验的有益效果。

技术领域

本发明涉及计量技术领域，尤其涉及一种光纤应变测试仪的校准装置及设备。

背景技术

光纤需要计量测试的参数很多，主要参数包括光功率、光衰减、衰减系数、光纤带宽、色散系数、折射率分布、截止波长、模场直径、数值孔径、心径、圆度、同心度等参数。这些参数中主要是：材料固有的光学性能参数，光传输特性参数和几何尺寸参数等。

目前光纤参数的测试仪器在市场上早已普及，但是由于实用的光纤计量标准装置匮乏，国内第三方机构一直未广泛开展相关业务。例如校准应变测试仪时，采用机械拉伸的方法制作计量标准装置，体积大、结构复杂，且不便于去客户现场开展计量服务工作。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种光纤应变测试仪的校准装置及设备，能有效减小校准装置的体积和重量，简化结构，并提高操作自动化程度。

为实现上述目的，本发明实施例提供了一种光纤应变测试仪的校准装置，包括应变量控制模块，所述应变量控制模块包括温度控制器和可拆卸的光纤盘，所述光纤盘绕设有第一长度的标准光纤；

所述应变量控制模块用于通过所述温度控制器控制所述光纤盘内绕设的具有第一长度的标准光纤的温度变化以改变所述具有第一长度的标准光纤的应变量；其中，所述光纤应变测试仪包括用于发射光信号的光接口和用于接收光信号的光接口。当所述光纤应变测试仪用于应变参数的测量功能的校准时，将所述标准光纤与所述用于发射光信号的光接口连接，所述用于接收光信号的光接口悬空；

所述第一长度不大于1km。

与现有技术相比，本发明公开的光纤应变测试仪的校准装置通过温度控制器控制光纤盘的温度变化以改变光纤判断光纤盘的应变量以对光纤应变测试仪的应变量参数测试功能进行校准的技术方案，解决了现有技术的校准装置体积大、结构复杂以及不便于去客户现场开展计量工作的问题，获得了体积小、结构简单、方便实用并提高了用户体验的有益效果。

优选地，所述校准装置还包括具有第二长度的光纤光栅，所述具有第二长度的光纤光栅为与具有第三长度的标准光纤的色散特性相同的光纤光栅；

其中，所述第二长度不大于20cm，所述第三长度不小于10km。

优选地，在所述第三长度为10km时，所述第二长度为1cm～10cm。

优选地，所述校准装置还包括光纤耦合器和第一光纤环，所述第一光纤环与所述光纤耦合器通过标准光纤连接成闭合环路；

所述光纤应变测试仪包括第一光接口和第二光接口，所述光纤耦合器包括第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端，所述第一输入端通过标准光纤与所述第一光接口连接，所述第一输出端、光纤盘、所述光纤光栅与所述第二光接口通过标准光纤串行连接；

所述第二输入端通过标准光纤与所述第一光纤环的一端连接，所述第二输出端通过标准光纤与所述第一光纤环的另一端连接。

优选地，所述校准装置还包括第二光纤环；所述光纤耦合器、光纤盘、所述光纤光栅、所述第二光纤环通过标准光纤串行连接。

优选地，所述光纤耦合器为2*2光纤耦合器。

优选地，所述第一光纤环为绕设有第四长度的标准光纤的光纤环，所述第四长度不大于1km；和/或，所述第二光纤环为绕设有第五长度的标准光纤的光纤环，所述第五长度不大于1km。