[发明专利]一种温控设备不同温度下的性能检测方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及的是一种温控设备不同温度下的性能检测方法及其系统。

背景技术

温控箱，其主要工作性能是不同温度阶段的运行工作，其在出厂前需要对其进行不同阶段温度运行状态下的，电性参数性能是否符合指标、是否能够稳定运行；故提出一种适应于温控设备电性能参数的测试系统，实现对温控箱的多种参数在常温工作、高低不同温度下工作过程中进行自动化检测。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种温控设备不同温度下的性能检测方法及其系统；该系统及其方法实现对温控设备不同温度下某一产品的性能检测。

本系统根据产品高低不同温度下工作过程中的性能检测要求，配备多台高性能仪器，分别对产品在自动测试各阶段的输出电压调零、输出电压精度、输出限幅、输出电流调零，输出电流精度、输出电压拉偏、电流电流和输出阻抗等参数实现实时检测；由于采用自动控制方式，系统可以很好的满足产品测试的时间和测试数量的要求，所有检测数据通过GPIB总线、RS232、网络等汇总到控制终端。

本发明是通过以下技术方案实现的：一种温控设备不同温度下的性能检测系统，包括工控机，直流稳压电源，万用表，双踪示波器，数据采集器，可编程电阻箱；所述工控机设置有测试系统工控机软件，所述直流稳压电源，万用表，双踪示波器，数据采集器，可编程电阻箱等通过以太网HUB，GPIBUSB卡和USBRS232线缆，网线将系统设备连接到工控机上，实现系统自检、自动记录测试状态等功能；

其中，所述直流稳压电源电联于待测设备DUT,所述直流稳压电源，万用表，双踪示波器，数据采集器，可编程电阻箱等通过各自电信号检测端口对应连接于待测设备DUT的待测信号端口。

优选的，所述直流稳压电源E3631A提供±12V,电流50ma，调节精度0.01V；所述数字万用表34465A DUT13脚输出的电压和电流的测试；所述可编程电阻箱用于设置调零电阻,设置范围0--1KΩ,精度0.010ohm；所述数据采集器34970A用于开关和信号采集；

其中，还包括RT调温电阻。

优选的，RT调温电阻有8个，精度0.01Ω，需要通过GP开关来切换；调增益电阻RW需要通过GP开关来切换。

在温控设备产品的测试中，有常温和高低温测试，因此产品测试可以通过分组来提高测试的效率，除非有特殊的高低温顺序测试的要求，将同一批次产品的常温的测试一起做完，再做其他高低温测试，这样可以大大提高测试效率；具体分组需要结合客户的需求，调整测试流程和软件操作流程来实现，下面的流程暂时没有考虑分组测试要求。

其中，一种温控设备不同温度下的性能检测方法，流程如下：

1)开始；

2)检测设备是否正常？

3)有故障报错，退出检测；

4)无故障，开始检测，设置可编程电阻箱输出不同R0，Rw，Rt阻值，通过设置数采器的GP开关接入电路；

5)设置电源供电±12V±1.2V，并输出；

6)读取电源正负电源的输出电流；

7)断开电源，断开开关；

8)检测结束。

该系统中，测试部分采用测试工装设计成母板+测试子板的方式，测试工装由于需要在高低温箱以内进行测试，因此需要通过测试电缆将测试工装与工装测试母板连接在一起，连接电缆由于在高低温箱内进行测试，需要外部进行保温和屏蔽处理，另外线缆长度也需要严格控制；在测试母板上预留多个连接座，用于以后长期测试使用。

其中，测试工装的设计尽量满足客户对多个DUT测试的实际需要，根据现在的数采器的GP开关模块有20路开关控制，而XX-2测试一个DUT的测试需要近10路开关，因此配置1个GP模块可以满足2个DUT信号采集的需要，每增加1个GP模块可以满足2个DUT信号采集。将数据采集器配置成34903A GP开关模块2个可以支持4个DUT的采集。

本发明相比现有技术具有以下优点：本发明相比现有技术具有以下优点：一种温控设备不同温度下的性能检测方法及其系统；该系统及其方法实现对温控设备不同温度下某一产品各阶段的输出电压调零、输出电压精度、输出限幅、输出电流调零，输出电流精度、输出电压拉偏、电流电流和输出阻抗等参数性能实现实时检测。

附图说明

图1为本实发明实施例提供的一种温控设备不同温度下的性能检测系统的构架框图；

图2为本实发明实施例提供的一种温控设备不同温度下的性能检测系统的原理示意图。

具体实施方式