[发明专利]一种带隙可调的BN(Al)薄膜材料及其制备方法在审
申请号: | 201710413970.8 | 申请日: | 2017-06-05 |
公开(公告)号: | CN107164727A | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 张侃;徐永宽;于陕升;文懋;谷鑫磊 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/34;C23C14/35 |
代理公司: | 吉林省长春市新时代专利商标代理有限公司22204 | 代理人: | 石连志 |
地址: | 130025 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可调 bn al 薄膜 材料 及其 制备 方法 | ||
1.一种带隙可调的BN(Al)薄膜材料,各成分的原子数百分含量比如下:
N含量的范围为47.7-48.8at.%,B含量范围为49.1-50.0at.%,掺杂Al的含量范围为1.2-3.2at.%。
2.一种带隙可调的BN(Al)薄膜材料的制备方法,具体操作步骤如下:
一、采用射频共溅射法:以高纯BN和Al作为靶源,其中BN靶材的硼氮比为5:1-1.2:1,Ar作为放电气体,在单晶硅衬底上沉积BN(Al)薄膜,其中BN靶材的功率为200-300W,Al靶材的功率为30-60W,溅射总压强为0.6-1.2Pa,沉积温度为室温(RT)-800℃,靶基距为60-100mm,真空度为2×10-4Pa,薄膜制备过程中引入氩离子对样品表面进行轰击,在通入氩离子对薄膜生长表面进行轰击的同时,同时在样品托盘上施加的电压为-100至-400V,诱导薄膜出现N空位缺陷;
二.采用单晶Si作为薄膜生长的衬底:在衬底装入溅射腔体之前,将其进行预处理,分别使用丙酮、无水乙醇和去离子水一次超声清洗15min,并用氮气吹干;
三、抽真空:将上述清洗得到的衬底安装在样品台上,并分别将BN靶材和Al靶材装上靶台,先后开启机械泵和分子泵抽真空,真空度需达到2×10-4Pa以下;
四、衬底预热与预溅射:达到上述真空度后,对衬底进行加温,当达到预设温度时,持续保持该温度不低于0.5h,溅射开始前,为出去靶材上吸附的杂质原子,如BN靶材上的氧,铝靶表面的氧化铝等,通入纯氩气,对靶材进行预溅射,时间为10min;
五、开始进行溅射实验:
选择硼氮比范围为5:1-1.2:1的BN靶材,设置BN靶材的功率为200-300W,Al靶材的功率为30-60W,溅射总压强为0.6-1.2Pa,沉积温度为室温-800℃,靶基距为60-100mm,真空度为2×10-4Pa,同时在样品托盘上施加的电压为-100至-400V,薄膜的沉积时间达到180min后,停止溅射,样品在真空中自然冷却至室温后取出真空室。
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