[发明专利]样本分析仪进样结构、样本分析仪及采样方法

权利要求书

1.一种样本分析仪进样结构，包括样本容器放置部件，所述样本容器放置部件上设置有至少两个样本放置位，每个样本放置位能够容纳一个样本容器，其特征在于，所述样本分析仪进样结构还包括限位装置，所述限位装置具有至少两个限位工位，当所述限位装置处于任一所述限位工位时，仅能使所述样本容器放置部件中的其中一个样本放置位处于能够容纳样本容器的状态，当其中一个样本放置位中放置有样本容器时，所述样本容器阻止所述限位装置切换限位工位。

2.根据权利要求1所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述样本容器放置部件中样本放置位的数量与所述限位装置的限位工位数量相同，且一个所述限位工位对应使一个样本放置位处于能够容纳样本容器的状态。

3.根据权利要求1或2所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述样本容器放置部件上设置有具有开口的容置腔，所述容置腔形成所述样本放置位，所述容置腔包括能够容纳不同形状样本容器的第一容置腔和第二容置腔；所述限位装置相对每个所述容置腔具有两个状态，包括允许容纳样本容器的开放状态和阻止容纳样本容器的封闭状态。

4.根据权利要求3所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述限位装置设置在所述容置腔的开口外部，所述限位装置能够至少部分覆盖在所述容置腔的开口处以形成阻止容纳样本容器的封闭状态，及所述限位装置能够避让所述容置腔的开口处以形成允许容纳样本容器的开放状态。

5.根据权利要求3所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述限位装置设置在所述样本容器放置部件中，所述限位装置能够至少部分进入所述容置腔中以形成阻止容纳样本容器的封闭状态，及所述限位装置能够避让所述容置腔以形成允许容纳样本容器的开放状态。

6.根据权利要求4或5所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述容置腔的深度小于对应的样本容器的长度，当处于开放状态的所述容置腔内容纳有对应的样本容器时，所述样本容器外露于所述容置腔开口处的部分对所述限位装置形成干涉，以阻止所述限位装置切换相对于所述样本容器放置部件的限位工位。

7.根据权利要求6所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述容置腔的开口设置在所述样本容器放置部件的外表面，所述限位装置可转动或可滑动的设置在所述样本容器放置部件的外表面上，所述限位装置通过相对于所述样本容器放置部件的转动或滑动过程以切换相对于所述样本容器放置部件的限位工位。

8.根据权利要求3所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述限位装置包括限位板，所述限位板相对于所述样本容器放置部件具有两个限位工位，当所述限位板处于任一所述限位工位时，所述限位板覆盖在其中一个容置腔的开口处以形成阻止容纳样本容器的封闭状态，同时所述限位板远离另一个容置腔的开口处以形成允许容纳样本容器的开放状态。

9.根据权利要求3所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述限位装置包括限位板，所述限位板上开设有一个开放孔，所述开放孔与任意一个容置腔的开口相对应以使该容置腔形成允许容纳样本容器的开放状态，同时其他容置腔的开口在所述限位板的覆盖下形成阻止容纳样本容器的封闭状态。

10.根据权利要求8所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述限位板通过转轴与所述样本容器放置部件转动连接，所述限位板包括相连接的转动部和摆动部，所述转轴与所述转动部相连接，所述摆动部与任一个所述容置腔的开口相对应。

11.根据权利要求10所述的样本分析仪进样结构，其特征在于，所述限位装置还包括定位机构，所述定位机构包括定位件和定位配合部，所述定位配合部具有与所述定位件配合的两个定位面，所述定位机构能够使所述限位板的摆动部在转动过程中停留覆盖在其中一个容置腔的开口处。