[发明专利]基于自回归局部图像描述的3D合成图像质量评价方法有效

专利信息
申请号: 201710421612.1 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107180427B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 乔俊飞;栗三一;顾锞 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T15/10
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 刘萍
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 回归 局部 图像 描述 合成 质量 评价 方法
【权利要求书】:

1.基于自回归局部图像描述的3D合成图像质量评价方法,其特征在于包括以下步骤:

第一步、建立自回归模型;

第二步、计算自回归参数;

第三步、计算图像与自回归模型预测值之间的误差;

第四步、二值化误差,将误差根据阈值变为0和1;

第五步、根据二值化误差计算图像质量得分;

第一步中:

自回归模型建立方法如下:

对于图像I中一个像素,定义其位置指标为i,值为zi,则构造该像素与其周边像素的关系为:

zi=Rσ(zi)q+di (1)

其中Rσ(zi)为像素zi周边面积为的区域内σ个像素的值组成的矢量;q=(q1,q2,…,qσ)T为自回归参数矢量,(q1,q2,…,qσ)分别对应周边σ个像素的参数,一个像素有一个参数;T表示转置;di为当前像素值与相应的自回归预测值之间的误差;其中设定σ值为8;

第二步中:

自回归参数计算方法如下:

为了计算合适的自回归参数,首先将线性系统转换为矩阵形式:

其中z=(zi,1,zi,2,…,zi,φ)T,(zi,1,zi,2,…,zi,φ)为以像素zi为中心的区域内的φ个像素的值;Z为φ行σ列的矩阵;Z的第j行向量表达式为Z(j,:)=Rσ(zi,j),j={1,2,…,φ},表示像素zi,j周边面积为的区域内σ个像素的值组成的矢量,其中设定σ值为8;将φ设定为48;

然后使用最小二乘方法得到最好的自回归参数:

其中Z与z的定义同公式(2)。

2.根据权利要求1所述的基于自回归局部图像描述的3D合成图像质量评价方法,其特征是,第三步中:

使用自回归模型预测输入DIBR合成图像并得到误差;同时使用高斯滤波器对误差进行滤波,移除孤立的噪声点;然后只保留η%误差显著的区域,η%取值范围为0%到50%。

3.根据权利要求1所述的基于自回归局部图像描述的3D合成图像质量评价方法,其特征是,第四步中:

二值化误差方法如下:

通过阈值对误差进行二值化操作:

其中Ee为高斯滤波后的误差,λt为恒定阈值,取值范围为30到150;

第五步中:

图像质量评分公式如下:

其中N1表示Ed值为1的像素点的个数,N表示整个图像中所有像素点的个数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710421612.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top