[发明专利]一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法在审

专利信息
申请号: 201710421820.1 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN109001093A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 邓虎成;周文;陈文玲;周秋媚;徐浩 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴啸寰
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 页岩 定量表征 孔隙特征 孔隙体系 孔隙参数 视域 分布图 观察 电子显微镜图像 电子显微镜 数学 表征技术 纳米孔隙 软件定量 放大 统计
【说明书】:

一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法,涉及孔隙表征技术领域。一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,包括:确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数;确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的观察视域数;利用软件定量统计观察视域数的孔隙参数;建立孔隙参数的数学分布图。该方法能较准确地定量表征出页岩储层的微‑纳米孔隙结构特征。一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。其评价结果较为准确。

技术领域

发明涉及孔隙表征技术领域,且特别涉及一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法以及评价页岩储层孔隙特征的方法。

背景技术

富有机质页岩微孔隙属于微-纳米孔隙体系,储集油气的孔隙尺度跨度大,纳米级孔隙占总孔隙的约80%,微米级孔隙占总孔隙的约20%,其统计结果如图1所示。采用常规的薄片技术不能观察,通常采用电子显微技术观察。但利用电子显微镜观察主要存在以下问题:同一样品,不同尺度、不同视域观察的微孔隙特征、大小等不同,结果存在差异;缺乏合适的定量统计标准。

发明内容

本发明的目的在于提供一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,该方法能较准确地定量表征出页岩储层的微-纳米孔隙结构特征。

本发明的另一目的在于提供一种评价页岩储层孔隙特征的方法,根据上述的定量表征方法可以得到孔隙结构的数学分布图,利用该数学分布图可以对孔隙结构特征进行评价,其评价结果较为准确。

本发明解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。

本发明提出一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,包括:确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数;确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数;利用软件定量统计最小观察视域数的孔隙参数;建立孔隙参数的数学分布图。

本发明还提出一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。

本发明实施例的有益效果是:一种页岩储层孔隙体系的定量表征方法,确定电子显微镜能够观察到有机孔隙的最小放大倍数。在最小放大倍数以上,统计得到的微孔隙参数没有大的变化,统计得到孔隙参数能够反应页岩储层中的微-纳米孔隙特征。确定孔隙参数趋于稳定时的电子显微镜图像的最小观察视域数。在该观察视域范围内,得到页岩储层的微-纳米孔隙参数才能较为真实的反应页岩储层孔隙的实际特征。最后结合孔隙参数的数学分布图可以定量地表征页岩储层孔隙体系的特征。

一种评价页岩储层孔隙特征的方法,利用上述的页岩储层孔隙体系的定量表征方法得到的数学分布图来对孔隙特征进行评价。其评价结果较为准确。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为背景技术里的孔径区间统计图;

图2为本发明具体实施方式和实施例1中的页岩储层在不同放大倍数下电子显微镜图像与统计的页岩储层中微-纳米孔隙平均直径的关系图;

图3为本发明具体实施方式的页岩储层经氩离子抛光后放大3万倍的电子显微镜图像中1-64个视域观察到的孔隙变化;

图4为本发明具体实施方式和实施例1中的页岩储层放大3万倍时电子显微镜图像观察视域数与统计的面孔率、平均孔径之间关系;

图5为本发明实施例1中64个观察视域单元的示意图;

图6为本发明实施例1中页岩储层微纳米孔隙的孔径概率密度分布函数及曲线图。

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