[发明专利]使用功能性连接进行自动寻址有效
申请号: | 201710429611.1 | 申请日: | 2017-06-09 |
公开(公告)号: | CN107493355B | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | P·A·M·德克罗德特;J·丹尼尔;P·赫斯基 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H04L61/50 | 分类号: | H04L61/50;H05B45/00;H05B47/175 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张小稳 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 功能 连接 进行 自动 寻址 | ||
1.一种用于自动寻址的方法,包括:
在控制器的通信端口处接收地址发起请求,所述地址发起请求配置所述控制器以进入地址分配模式;
通过供应电流通过与连接到所述控制器的器件串联连接的功能性连接来激活到所述器件的所述功能性连接;
在所述通信端口处接收地址分配请求;
通过测量所述器件两端的电压利用所述控制器确定所述器件的特性,其中所述特性是所述器件的亮度;
利用验证参数来验证所述器件的所述特性,所述特性由所述功能性连接启用;和
响应于验证所述器件的所述特性来向所述控制器分配地址,其中验证所述器件的所述特性包括所述器件两端的电压具有大于或等于所述验证参数的第二幅值的第一幅值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中验证所述器件的所述特性包括测量LED串两端的LED电压,并且将所述LED电压与所述验证参数进行比较,当所述LED电压等于或大于所述验证参数时所述特性被验证,其中所述验证参数是验证电压。
3.根据权利要求1所述的方法,还包括在所述通信端口处接收地址终止请求,所述地址终止请求配置所述控制器退出所述地址分配模式。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述控制器是共享所述通信端口的多个控制器之一,每个所述控制器连接到相应的LED串和被连续激活的用于所述LED串中的每个LED串的相应功能性连接。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述器件包括至少一个发光二极管LED,并且至少一个LED中的一个LED的平均LED电流响应于在所述通信端口处接收到的调光请求而减小,其中流过所述LED中的一个LED的所述平均LED电流通过以下方式减小:将所述平均LED电流的至少一部分分流通过与所述一个LED并联连接的晶体管。
6.一种用于自动寻址的装置,包括:
通信总线接口,所述通信总线接口被配置为接收地址分配请求以向器件分配地址;
功能性连接,所述功能性连接被配置为通过向所述器件供应电流来激活所述器件;
检测器,所述检测器被配置为通过测量所述器件两端的电压来测量所述器件的特性并且将所述器件的特性与验证参数进行比较,其中所述特性是所述器件的亮度,所述器件的特性由所述功能性连接启用;和
地址分配电路,所述地址分配电路被配置为响应于在所述装置处接收到所述地址分配请求并且利用所述验证参数验证了所述器件的特性来将所述地址存储在所述装置的存储器中,其中所述器件的特性由大于或等于所述验证参数的第二幅值的所述器件两端的电压的第一幅值来验证。
7.根据权利要求6所述的装置,还包括串联连接的多个晶体管,每个晶体管与多个LED中的相应一个LED并联连接,并且被配置为响应于来自调光器的调光请求来将来自所述LED中的所述相应一个LED的平均电流的至少一部分进行分流。
8.一种像素控制器,包括:
通信总线接口,所述通信总线接口被配置为接收地址分配请求以向所述像素控制器分配地址;
功能性连接,所述功能性连接被配置为向具有串联连接的多个LED的发光二极管LED串供应偏置电流,所述LED串连接到所述像素控制器;
检测器,所述检测器被配置为测量所述LED串两端的LED串电压,并将所述LED串电压与利用所述地址分配请求所接收的验证参数进行比较,其中所述LED串电压与所述LED串的亮度成比例;和
地址分配电路,所述地址分配电路被配置为在利用所述验证参数验证了所述LED串电压时将所述地址存储在所述像素控制器的存储器中,其中所述LED串电压响应于所述LED串电压大于或等于所述验证参数的电压而被验证。
9.根据权利要求8所述的像素控制器,还包括调光器,所述调光器被配置成利用与所述LED并联连接的晶体管将所述偏置电流的至少一部分进行分流来减小通过所述多个LED中的一个LED的LED电流。
10.根据权利要求8所述的像素控制器,还包括串联连接的多个晶体管,每个晶体管与所述多个LED中的相应一个LED并联连接,并且被配置为响应于由调光器发出的调光请求来对来自相应LED的所述偏置电流的至少一部分进行分流。
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