[发明专利]一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法

权利要求书

1.一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法，其特征在于：所述方法具体过程为：

步骤一：对待检测的高光谱图像进行张量块的选择和划分，获得空X-空Y-光谱三阶目标模板张量块、空X-空Y-光谱三阶背景模板张量块和待检测的空X-空Y-光谱三阶测试样本张量块；

步骤二：设定目标模板张量块、背景模板张量块和待检测的测试样本张量块每一维投影后维度的大小，利用所有待检测的测试样本张量块获得目标模板张量块、背景模板张量块和待检测的测试样本张量块三个维度上的投影矩阵；

步骤三：根据步骤二获得的目标模板张量块、背景模板张量块和待检测的测试样本张量块三个维度上的投影矩阵，将步骤一得到的目标模板张量块、背景模板张量块和待检测的测试样本张量块投影到预设的张量子空间中；

步骤四：采用TSAM距离度量方式，计算在投影后的张量子空间内，每一个待检测的测试样本张量块到背景模板张量块的总距离angle_b(m),m＝1,2,...M，以及每一个待检测的测试样本张量块到目标模板张量块的总距离angle_t(m),m＝1,2,...M，M表示待检测的测试样本张量块的个数；

步骤五：建立张量距离比检测模型，将步骤四中得到的距离angle_b(m)和距离angle_t(m)的比值ratio(m)作为每个待检测的测试样本张量块中心点对应的灰度值，设定阈值η，如果任意一个待检测的测试样本张量块中心点对应的灰度值ratio(m)大于阈值η，则确定该中心点的像元为目标，否则认为该中心点的像元为背景。

2.根据权利要求1所述一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法，其特征在于：所述步骤一中对待检测的高光谱图像进行张量块的选择和划分，获得空X-空Y-光谱三阶目标模板张量块、空X-空Y-光谱三阶背景模板张量块和待检测的空X-空Y-光谱三阶测试样本张量块；具体过程为：

给定一个3×3的窗口，将待检测的高光谱图像转换成三阶张量的形式，滑动取样窗口，当取样窗口中心点对应真值图的值为1的时候确定为空X-空Y-光谱三阶目标模板张量块T-tensor(i),i＝1,2,...N_T；当窗口内所有点对应真值图的值均为0的时候确定为空X-空Y-光谱三阶背景模板张量块B-tensor(j),j＝1,2,...N_B；滑动过程中一共从张量化的高光谱图像中获得M个待检测的、未知类别属性的空X-空Y-光谱三阶测试样本张量块N_T、N_B和M分别为目标模板张量块、背景模板张量块和待检测的测试样本张量块的个数，取值均为正整数。