[发明专利]以太网端口的S11参数测试方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201710438287.X 申请日: 2017-06-12
公开(公告)号: CN107147451A 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 黄小清 申请(专利权)人: 深圳市共进电子股份有限公司
主分类号: H04B17/10 分类号: H04B17/10
代理公司: 深圳青年人专利商标代理有限公司44350 代理人: 傅俏梅
地址: 518000 广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园B116、B11*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 以太网 端口 s11 参数 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种以太网端口的S11参数测试方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:

接收用户输入的被测以太网端口的S11参数测试请求,所述S11参数测试请求中包括被测输入阻抗,所述被测输入阻抗为85或115欧姆;

根据所述S11参数测试请求,测试输入阻抗为预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据,所述预设输入阻抗为50或100欧姆;

根据所述测试得到的S11参数数据,通过第一预设公式计算所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部;

根据所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部,通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据;

输出所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,测试输入阻抗为预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据的步骤,包括:

启动连接好的网络分析仪,通过所述网络分析仪测试输入阻抗为所述预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述测试得到的S11参数数据,通过第一预设公式计算所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部的步骤,包括:

根据所述S11参数数据中的S11数值和S11参数数据中的角度值,通过公式计算所述特性阻抗实部,通过公式计算所述特性阻抗虚部,其中,所述Z0表示所述预设输入阻抗,R表示所述被测以太网端口在所述预设输入阻抗时的反射系数实部,X表示所述被测以太网端口在所述预设输入阻抗时的反射系数虚部,R、X通过所述S11参数数据中的S11数值和S11参数数据中的角度值计算得到。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部,通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据的步骤,包括:

通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据,其中,所述Z′0表示所述被测输入阻抗,R1表示所述特性阻抗实部,X1表示所述特性阻抗虚部。

5.一种以太网端口的S11参数测试装置,其特征在于,所述装置包括:

请求接收单元,用于接收用户输入的被测以太网端口的S11参数测试请求,所述S11参数测试请求中包括被测输入阻抗,所述被测输入阻抗为85或115欧姆;

数据获取单元,用于根据所述S11参数测试请求,测试输入阻抗为预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据,所述预设输入阻抗为50或100欧姆;

阻抗计算单元,用于根据所述测试得到的S11参数数据,通过第一预设公式计算所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部;

参数计算单元,用于根据所述被测以太网端口的特性阻抗实部和特性阻抗虚部,通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据;以及

数据输出单元,用于输出所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述数据获取单元包括:

数据获取子单元,用于启动连接好的网络分析仪,通过所述网络分析仪测试输入阻抗为所述预设输入阻抗时所述被测以太网端口的S11参数数据。

7.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述阻抗计算单元包括:

阻抗计算子单元,用于根据所述S11参数数据中的S11数值和S11参数数据中的角度值,通过公式计算所述特性阻抗实部,通过公式计算所述特性阻抗虚部,其中,所述Z0表示所述预设输入阻抗,R表示所述被测以太网端口在所述预设输入阻抗时的反射系数实部,X表示所述被测以太网端口在所述预设输入阻抗时的反射系数虚部,R、X通过所述S11参数数据中的S11数值和S11参数数据中的角度值计算得到。

8.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述参数计算单元包括:

参数计算子单元,用于通过第二预设公式计算所述被测以太网端口为所述被测阻抗时的S11参数数据,其中,所述Z′0表示所述被测输入阻抗,R1表示所述特性阻抗实部,X1表示所述特性阻抗虚部。

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