[发明专利]基于长周期光纤光栅光谱的石墨烯复折射率测量方法

权利要求书

1.本发明属于光通信领域，涉及长周期光纤光栅和石墨烯的集成，提供了基于长周期光纤光栅光谱的石墨烯复折射率测量方法，将石墨烯转移至长周期光纤光栅表面，通过一阶各次包层模的表面倏逝波和石墨烯的相互作用，显著改变包层模有效折射率，从而导致长周期光纤光栅透射谱中谐振波长的偏移，对比数值计算得到的石墨烯复折射率与谐振波长偏移量的关系表格，测出石墨烯复折射率。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法的具体实现步骤如下：

步骤一，测量石墨烯包裹前的长周期光纤光栅的透射谱；

步骤二，将石墨烯材料包裹到长周期光纤光栅的包层表面；

步骤三，测量石墨烯包裹长周期光纤光栅后的透射谱；

步骤四，根据步骤一和步骤三的记录的透射谱数据，计算透射谱中各级次谐振波长的偏移量；

步骤五，根据长周期光纤光栅的固定参数，采用三层复折射率包层介质模型建立石墨烯包裹长周期光纤光栅混合波导的本征方程；

步骤六，改变外包层折射率多次求解纤芯模有效折射率以及包裹石墨烯前后的各次包层模有效折射率,建立石墨烯复折射率和谐振波长偏移量的对应关系表格；

步骤七，查表计算石墨烯复折射率。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤二中，采用湿法转移法将石墨烯转移到长周期光纤光栅表面。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤六中，可以建立石墨烯复折射率和各个谐振波长偏移量的多个表格，测量不同谐振波长处的石墨烯复折射率。