[发明专利]一种非易失性存储器的编程方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种非易失性存储器的编程方法及装置，涉及存储器技术领域。本发明实施例将静态随机存储器中的待编程数据与非易失性存储器中的数据信息进行第一校验，并将第一校验结果回写至静态随机存储器内，对第一校验中校验失败的数据信息进行编程操作，根据第一校验结果对编程操作后的数据信息进行第二校验，确定编程是否成功。通过将校验结果回写至静态随机存储器中，再根据静态随机存储器中的校验结果判断是否对非易失性存储器中的数据信息进行编程，采用分时复用的思路，使静态随机存储器既可以存储待编程数据，又可以代替存储器件A存储校验结果，提高了逻辑电路的利用率，简化了逻辑结构，并缩小了电路的面积。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别是涉及一种非易失性存储器的编程方法及装置。

背景技术

非易失性存储器是一种在断电情况下，能够保持所存储的数据的存储器，因此，非易失性存储器被广泛用作计算机、个人数字助理、移动电话、数字相机等电子产品的数据存储装置。

目前，非易失性存储器的编程方法是将1个页面的待编程数据写入静态随机存储器中，将待编程数据与非易失性存储器中原本的数据信息进行校验，将校验结果存于一个额外的存储器件A中，再根据存储器件A中的校验结果判断是否对非易失性存储器中原本的数据信息进行编程。

在发明人应用在先技术时，发现在先技术中的静态随机存储器仅用于存储待编程的数据，将待编程数据与非易失性存储器中的数据信息校验后的校验结果更新至存储器件A中，静态随机存储器便处于闲置状态，导致逻辑电路的利用率不高，且由于设置了额外的存储器件，造成电路的面积较大。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的非易失性存储器的编程方法及装置。

依据本发明的一个方面，提供了一种非易失性存储器的编程方法，包括：

依次读取静态随机存储器指定地址的待编程数据；

根据所述指定地址读取非易失性存储器中相应地址的数据信息；

将所述待编程数据与所述数据信息进行第一校验，并将第一校验结果回写至所述静态随机存储器的指定地址内；

对所述第一校验中校验失败的数据信息进行编程操作；

根据所述第一校验结果对所述编程操作后的数据信息进行第二校验，确定编程是否成功；

当所述编程失败时，对所述编程操作后的数据信息重复进行编程操作与第二校验，直至编程成功或达到最大编程次数。

优选地，所述将所述待编程数据与所述数据信息进行第一校验，并将第一校验结果回写至所述静态随机存储器的指定地址内的步骤，包括：

将所述待编程数据与所述数据信息进行第一校验；

当所述待编程数据为0，且所述数据信息为1时，第一校验失败，将第一校验结果0回写至所述静态随机存储器的指定地址内；

当所述待编程数据为1，或所述待编程数据与所述数据信息均为0时，第一校验成功，将第一校验结果1回写至所述静态随机存储器的指定地址内。

优选地，所述根据所述第一校验结果对所述编程操作后的数据信息进行第二校验，确定编程是否成功的步骤，包括：

根据所述第一校验结果对所述编程操作后的数据信息进行第二校验；

当所述第一校验结果为0，且所述编程操作后的数据信息为1时，编程失败，将第二校验结果0回写至所述静态随机存储器的指定地址内；

当所述第一校验结果与所述编程操作后的数据信息均为0时，编程成功，将第二校验结果1回写至所述静态随机存储器的指定地址内。