[发明专利]测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具及其检测方法

权利要求书

1.一种测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，包括量块(1)，所述量块(1)为扁平圆外形，其厚度根据键槽宽度而设计，其圆形直径按键槽内圆弧直径设计，其圆弧与键槽内圆弧两侧接触实现V形定位，其特征在于：还包括量规(2)，所述量规(2)为具有通端和止端的圆柱体，其通端和止端直径由半圆键槽、测量基准面及所述量块(1)的外径决定，所述量块(1)、量规(2)通过相互配合使用即可判定被测件(3)半圆键槽中心至基准面的尺寸是否符合图纸要求。

2.根据权利要求1所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量规(2)的通端和止端直径分别为半圆键槽至测量基准面的尺寸公差以及量块(1)的外径尺寸公差的最小值和最大值。

3.根据权利要求1或2所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量块(1)圆形直径比键槽内圆弧最大直径值大0.1 mm。

4.根据权利要求1或2所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量块(1)厚度设计成不少于2组尺寸规格，每组按0.005mm分级。

5.根据权利要求4所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具，其特征在于：所述量块(1)组数量为5至7组。

6.一种使用权利要求1或2所述的测量曲轴半圆键槽轴向位置尺寸的检测工具的方法，其特征在于：包括如下步骤：

（1）根据半圆键槽宽度尺寸，选择一组对应厚度的辅助量块，使量块无侧隙塞入键槽时，无松动；

（2）使用量规检测量块外圆弧至基准面的距离尺寸，判定被测尺寸是否合格：

1)如果量规通端能通过而止端不能通过，则判定被测尺寸合格；

2)如果量规通端不通过，则判定被测位置尺寸过小，不合格；

3)如果量规止端能通过，则判定被测位置尺寸过大，不合格。