[发明专利]蓄电元件的电阻的测定方法以及测定装置

说明书

本发明提供蓄电元件的电阻的测定方法以及测定装置，提高了被测定蓄电元件的电压变化的检测精度，从而提高了DCIR(直流内部电阻)的计算结果的可靠性。使被测定蓄电元件(被测定电容器(4))充电或放电，当所述被测定蓄电元件的电压达到规定电压时，停止被测定蓄电元件的充电或放电，检测所述被测定蓄电元件在充电或放电的停止时刻的电压与所述被测定蓄电元件从所述充电或所述放电的停止时刻起规定时间后的电压之间的电压差，并且放大(差动放大器(10))该电压差，使用放大所述电压差而得的电压来计算所述被测定蓄电元件的电阻(DCIR)。

技术领域

本发明涉及电容器、充电池等蓄电元件的电阻测定技术。

背景技术

作为蓄电元件的一例，电容器中直流内部电阻(Direct-Current InternalResistance、以下称作“DCIR”)及其特性被用作表示电容器性能的参数。因此，DCIR在维持装配设备的性能方面极为重要。该DCIR并非固定值，其根据使用状态、使用时间而劣化。因此，对于电容器来说，在制造时测定DCIR并判定其是好是坏是必需的。为了维持装配设备的性能，要求监视电容器装配时至装配后的DCIR特性。

关于该DCIR的测定，公知有如下方法：利用恒定电流使电容器充电至规定电压，将停止该充电的时刻的端子间电压与维持开放状态达规定时间后的端子间电压之间的电压差除以一恒定电流(＝电压差/一恒定电流)，求出电阻(例如专利文献1、专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平9-211041号公报

专利文献2：日本特开2001-242204号公报

发明内容

发明所要解决的课题

但是，在这样的电容器的DCIR测定中，例如在使用恒定电流充电的情况下，需要测定其充电停止时刻的电压和放置规定时间后的电压。该电压变化(电压差)非常小，因此要正确测定该电压差，则必须使用分辨率高的高精度测定器。在不使用这样的测定器的情况下，必须增大流过电容器的电流而进行测定。无论哪种情况都存在测定装置昂贵的课题。

即使该微小的电压变化能在具备测定装置的实验室中检测出来，也存在电容器的生产线、电容器的装配设备中在使用中检测该电压变化很麻烦这样的课题。

并且，如果电压的测定误差变大，则根据该测定电压计算出的电阻值的误差也变大，存在要求的电阻值的可靠性降低的课题。

这样，当电压变化存在计算误差时，则存在根据该电压变化计算出的电容器的电阻值变化有损于装配设备的功能而在电容器的装配设备中得不到期待的特性的课题。

因此，本发明的目的在于，鉴于上述课题，希望提高被测定蓄电元件的电压变化的检测精度，并提高DCIR(直流内部电阻)的计算结果的可靠性。

用于解决课题的手段

为了达到上述目的，根据本发明的蓄电元件的电阻的测定方法的一个方面，可以包括以下步骤：使被测定蓄电元件充电或放电；当所述被测定蓄电元件的电压达到规定电压时，停止被测定蓄电元件的充电或放电；检测所述被测定蓄电元件在充电或放电的停止时刻的电压与所述被测定蓄电元件从所述充电或所述放电的停止时刻起规定时间后的电压之间的电压差，并且放大该电压差；以及使用放大所述电压差而得的电压来计算所述被测定蓄电元件的电阻。