[发明专利]一种增大离子注入束流的离子发射装置及方法有效
申请号: | 201710456328.8 | 申请日: | 2017-06-16 |
公开(公告)号: | CN107393796B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 康晓旭;曾绍海 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01J37/317 | 分类号: | H01J37/317;H01J37/32;H01L21/67 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;陈慧弘 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 增大 离子 注入 发射 装置 方法 | ||
1.一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,包括离子源、第一吸极、储存磁场和磁性分析部件,所述第一吸极设置在离子源的出口方向,所述储存磁场与所述第一吸极的出口偏转一定的角度,该角度使得经过第一吸极的离子进入储存磁场中做圆周运动,所述磁性分析部件用于对储存磁场中的离子进行检测分离;所述离子源电离的离子经过第一吸极引出,被第一吸极引出的离子进入储存磁场中做圆周运动,所述储存磁场设置可打开的缺口,当储存磁场中的离子数量达到规定值时,所述储存磁场打开缺口,将储存磁场中的离子释放至所述磁性分析部件中。
2.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述磁性分析部件设置在所述缺口的切线方向上;当储存磁场中的离子数量达到规定值时,所述储存磁场打开缺口,储存磁场中的离子沿着缺口的切线运动至所述磁性分析部件。
3.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,还包括偏转磁场,所述偏转磁场连接储存磁场的缺口和磁性分析部件;当储存磁场中的离子数量达到规定值时,所述储存磁场打开缺口,从储存磁场出来的离子经过偏转磁场进入所述磁性分析部件。
4.根据权利要求2或3所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述缺口为储存磁场的1/8部分。
5.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述储存磁场为环形磁场。
6.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述储存磁场通过增加线圈的方式设置。
7.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述第一吸极为电场驱动。
8.根据权利要求7所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,产生电场的电压为直流电压。
9.一种采用权利要求1所述的装置增大离子注入束流的方法,步骤如下:
S01:打开第一吸极,使得离子源电离的离子被第一吸极引出;
S02:被第一吸极引出的离子进入所述储存磁场中做圆周运动;
S03:重复步骤S01-S02,直到储存磁场中的离子数量达到规定值;
S04:将储存磁场中的离子引出到磁性分析部件中进行检测分离。
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