[发明专利]一种增大离子注入束流的离子发射装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710456328.8 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN107393796B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 康晓旭;曾绍海 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01J37/317 分类号: H01J37/317;H01J37/32;H01L21/67
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;陈慧弘
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 增大 离子 注入 发射 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,包括离子源、第一吸极、储存磁场和磁性分析部件,所述第一吸极设置在离子源的出口方向,所述储存磁场与所述第一吸极的出口偏转一定的角度,该角度使得经过第一吸极的离子进入储存磁场中做圆周运动,所述磁性分析部件用于对储存磁场中的离子进行检测分离;所述离子源电离的离子经过第一吸极引出,被第一吸极引出的离子进入储存磁场中做圆周运动,所述储存磁场设置可打开的缺口,当储存磁场中的离子数量达到规定值时,所述储存磁场打开缺口,将储存磁场中的离子释放至所述磁性分析部件中。

2.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述磁性分析部件设置在所述缺口的切线方向上;当储存磁场中的离子数量达到规定值时,所述储存磁场打开缺口,储存磁场中的离子沿着缺口的切线运动至所述磁性分析部件。

3.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,还包括偏转磁场,所述偏转磁场连接储存磁场的缺口和磁性分析部件;当储存磁场中的离子数量达到规定值时,所述储存磁场打开缺口,从储存磁场出来的离子经过偏转磁场进入所述磁性分析部件。

4.根据权利要求2或3所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述缺口为储存磁场的1/8部分。

5.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述储存磁场为环形磁场。

6.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述储存磁场通过增加线圈的方式设置。

7.根据权利要求1所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,所述第一吸极为电场驱动。

8.根据权利要求7所述的一种增大离子注入束流的离子发射装置,其特征在于,产生电场的电压为直流电压。

9.一种采用权利要求1所述的装置增大离子注入束流的方法,步骤如下:

S01:打开第一吸极,使得离子源电离的离子被第一吸极引出;

S02:被第一吸极引出的离子进入所述储存磁场中做圆周运动;

S03:重复步骤S01-S02,直到储存磁场中的离子数量达到规定值;

S04:将储存磁场中的离子引出到磁性分析部件中进行检测分离。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710456328.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top