[发明专利]一种单式测定法快速工业分析仪

说明书

技术领域

本发明涉及工业分析仪设备领域，尤其涉及一种单式测定法快速工业分析仪。

背景技术

现有单式测定法快速工业分析仪是由天平1、送样杆2、放样盘机构3、坩埚4、升降平台5、低温炉组件6和高温炉组件8等部件组成(详见图1)。其用于快速测定煤的水分、灰分和挥发分指标。如图1所示：低温炉组件包括炉体和测温传感器7组成，其能够控制在水分测试温度，高温炉组件包括炉体和测温传感器8组成，其控制在灰分或挥发分测试温度，水灰和挥发分坩埚放置在放样盘机构上，放样盘机构、低温炉组件和高温炉组都安装在升降平台上，升降平台能够通过电机11带动丝杆10实现上下运动。当测试水分时，放样盘机构把待测坩埚样品转动到送样杆位置上方，然后升降平台下降，送样杆把坩埚送入到低温炉进行水分测试；当测试灰分或挥发分时，放样盘机构把待测坩埚样品转动到送样杆位置上方，然后升降平台下降，送样杆把坩埚送入到高温炉进行灰分或挥发分测试。测试完成后升降平台上升，坩埚重新落到放样盘上，然后放样盘转动下一个待测坩埚到送样杆上部位置，进行下一个测试，从而实现连续测试。如图1所示，其测试水分和灰分、挥发分分别在低温炉和高温炉，设备需要两个不同的加热炉膛，并且测试灰分或挥发分时，送样杆需把坩埚穿过低温炉才能送入到高温炉进行试验，现有的方案存在以下缺陷：1、拥有两个加热炉膛和控温系统，设备实现较复杂；2、送样杆把坩埚送入到高温炉，需要穿过低温炉，因此低温炉上部需要开孔，并且经过高温炉灼烧后的坩埚返回到放样盘时，也会经过低温炉，这些因素都会影响低温炉的控温稳定性；3、送样杆把坩埚送入到高温炉，需要穿过低温炉，因此要求放样盘孔、低温炉孔和高温炉孔在一条线上，不然在送样过程中送样杆或坩埚会碰到加热炉板上而导致故障；4、送样杆把坩埚送入到高温炉，需要较长的送样杆，导致送样稳定性就变差，当设备受到外界振动和本身震动干扰时，容易出现掉坩埚故障。

发明内容

为了克服现有技术的问题，本发明提供一种单式测定法快速工业分析仪，它结构简单，控温稳定，运行可靠，其只采用一个加热炉组件炉膛和高温探头，送样杆无需穿越炉膛，送样杆长度大大减少，能够解决现有方案中存在的缺陷。

本发明的技术方案是：提供一种单式测定法快速工业分析仪，它是由天平、送样杆、放样盘机构、坩埚、升降平台、加热炉组件、高温探头、丝杆、电机组成，天平放置在升降平台下部，送样杆安装在天平支架上，加热炉组件和放样盘机构安装在升降平台上，升降平台能通过电机带动丝杆实现上下运动，放样盘机构上设有若干孔位，坩埚放置在放样盘机构的孔位上。

优选的，测试水分、灰分和挥发分时，加热炉组件通过高温探头控温到待测组分水分、灰分、或挥发分的温度，放样盘机构转动待测样品到送样杆上部位置，然后控制电机带动丝杆使升降平台下降，坩埚落到送样杆上被送入到加热炉组件中进行试验，试验完成后，控制电机带动丝杆使升降平台上升，坩埚重新落到放样盘机构上，放样盘机构转动下一个待测样品到送样杆上部，实现连续测试。

优选的，送样杆将坩埚送入加热炉组件中并停滞于加热炉组件外。

优选的，放样盘机构上设有若干孔位，能够放置坩埚，所述放样盘机构具有转动和定位功能，所述若干个为两个以上的自然数。

优选的，升降平台能够带动放样盘机构和加热炉组件运动，实现把坩埚从放样盘机构送入的加热炉组件或从加热炉组件离开放到放样盘机构上。

本发明的有益效果是：通过高温探头控制加热炉组件不同的试验温度，把加热炉组件炉膛的数量减少到一个，降低了送样杆的长度。相对与现有技术，其减少了机械的复杂度，提高了仪器的稳定性，避免了低温炉和高温炉温度相互影响，提高了控温的温度性。

附图说明

下面根据图进一步对本发明加以说明：

图1是本发明背景技术的结构示意图；

图2是本发明的结构图；

图2中所示：1、天平，2、送样杆，3、放样盘机构，4、坩埚，5、升降平台，6、加热炉组件，7、高温探头，8、丝杆，9、电机。

具体实施方式

下面结合图对本发明作进一步详细的说明，需要说明的是，图仅用于解释本发明，是对本发明实施例的示意性说明，而不能理解为对本发明的限定。