[发明专利]阵列基板及制作方法有效

专利信息
申请号: 201710464019.5 申请日: 2017-06-19
公开(公告)号: CN107153308B 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 林碧芬;甘启明 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰;顾楠楠
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 阵列 制作方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,其特征在于:包括基板(1)、多条扫描线(2)、设于扫描线(2)上的有源层(3)、与扫描线(2)交错设置的多条数据线(4)、与有源层(3)接触的漏电极(5)、形成于漏电极(5)上的钝化层(6)及形成于钝化层(6)上的像素电极(7),所述像素电极(7)经位于钝化层(6)上的过孔与漏电极(5)连接,所述漏电极(5)在所述基板(1)上的投影位于所述扫描线(2)在所述基板(1)上的投影内;所述扫描线(2)上位于数据线(4)交错的位置处分别开有扫描线孔(8),所述数据线(4)上与扫描线(2)交错的这部分线体(9)中,线体(9)的一部分线体与扫描线孔(8)重叠,线体(9)的另一部分线体与有源层(3)重叠并相互搭接,所述有源层(3)与数据线(4)平行的边缘与扫描线孔(8)与数据线(4)平行的边缘对齐。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于:至少占线体(9)线宽一半的部分线体与扫描线孔(8)部分重叠,线体(9)其余的部分线体与有源层(3)部分重叠并搭接。

3.根据权利要求1或2所述的阵列基板,其特征在于:所述扫描线孔(8)为矩形孔。

4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于:所述扫描线孔(8)中与数据线(4)延伸方向相同的过孔第一边缘(10)的长度和有源层(3)中与数据线(4)延伸方向相同的有源层第一边缘(11)的长度相等;所述数据线(4)中与过孔第一边缘(10)垂直的过孔第二边缘(13)的长度至少为数据线(4)线宽的两倍。

5.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于:所述线体(9)中占线体(9)线宽三分之二的部分线体与扫描线孔(8)部分重叠。

6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于:所述扫描线(2)上位于相邻数据线(4)之间设有增宽部(14)。

7.一种阵列基板的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤S01、提供一基板(1),在基板(1)的表面上制作栅电极层并图形化形成扫描线(2);

步骤S02、在扫描线(2)上沿扫描线(2)的长度方向制作扫描线孔(8);

步骤S03、在扫描线(2)上制作栅极绝缘层(12);

步骤S04、在栅极绝缘层(12)上位于每个扫描线孔(8)旁分别制作有源层(3);

步骤S05、在栅极绝缘层(12)上分别制作与扫描线(2)交错设置的数据线(4)、漏电极(5),所述漏电极(5)与有源层(3)接触,所述漏电极(5)在所述基板(1)上的投影位于所述扫描线(2)在所述基板(1)上的投影内,所述数据线(4)上与扫描线(2)交错的这部分线体(9)中,线体(9)的一部分线体与扫描线孔(8)重叠,线体(9)的另一部分线体与有源层(3)重叠并相互搭接,所述有源层(3)与数据线(4)平行的边缘与扫描线孔(8)与数据线(4)平行的边缘对齐;

步骤S06、在数据线(4)以及漏电极(5)上制作钝化层(6),并在钝化层(6)上位于漏电极(5)处制作过孔;

步骤S07、在钝化层(6)上制作像素电极(7),所述像素电极(7)经钝化层(6)上的过孔与漏电极(5)接触。

8.根据权利要求7所述的制作方法,其特征在于:所述步骤S05中至少占线体(9)线宽一半的部分线体与扫描线孔(8)部分重叠,线体(9)其余的部分线体与有源层(3)部分重叠并搭接。

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