[发明专利]显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种显示屏均匀性的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板；

分别对所述测试图像进行低通滤波和高通滤波，获取测试低通图像和测试高通图像；

将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据；

将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述在测试屏播放白色测试图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，并获取与所述测试图像尺寸对应的测试模板的步骤包括：

在测试屏播放白色图片时，对所述测试屏进行拍摄，获取测试图像，其中所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域；

对所述测试图像进行处理，将所述显示屏区域渲染为白色区域，将所述非屏区域渲染为黑色区域，获得与所述测试图像尺寸对应的测试模板。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试图像包括显示屏区域和非屏区域，所述测试模板包括白色区域和黑色区域，所述将所述测试低通图像和测试模板叠加处理得到测试低通叠加图像，将所述测试高通图像和测试模板叠加处理得到测试高通叠加图像，并分别根据所述测试低通叠加图像和测试高通叠加图像获取测试低通像素数据和测试高通像素数据的步骤包括：

将所述测试低通图像和测试模板进行叠加处理得到测试低通叠加图像，其中所述测试低通叠加图像包括测试低通区域，所述测试低通区域为所述测试低通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

将所述测试高通图像和测试模板进行叠加处理得到测试高通叠加图像，其中所述测试高通叠加图像包括测试高通区域，所述测试高通区域为所述测试高通图像的显示屏区域和所述测试模板的白色区域叠加所得；

获取所述测试低通区域的各像素点，并根据第一计算规则计算测试低通像素数据，所述第一计算规则为

其中，TT₁为测试低通像素数据，N为像素总数，X_i为像素点的像素值，为各像素点的平均值；

获取所述测试高通区域的各像素点，并根据第二计算规则计算测试高通像素数据，所述第二计算规则为

其中，TT₂为测试高通像素数据，N为像素总数，X_i为像素点的像素值。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，所述将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果的步骤包括：

将所述测试低通像素数据和参考低通像素数据进行对比，并将所述测试高通像素数据和参考高通像素数据进行对比；

若所述测试低通像素数据小于参考低通像素数据，且所述测试高通像素数据小于参考高通像素数据，则所述测试屏的均匀性满足测试要求。

5.如权利要求1至4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述将所述测试低通像素数据、测试高通像素数据和预设参考数据进行对比，并根据对比结果确定所述测试屏均匀性的测试结果的步骤之前，还包括：

在参考屏播放所述预设测试图片时，对所述参考屏进行拍摄，获取参考图像，并获取与所述参考图像尺寸对应的参考模板；

分别对所述参考图像进行低通滤波和高通滤波，获取参考低通图像和参考高通图像；

将所述参考低通图像和参考模板叠加处理得到参考低通叠加图像，将所述参考高通图像和参考模板叠加处理得到参考高通叠加图像，并分别根据所述参考低通叠加图像和参考高通叠加图像获取参考低通像素数据和参考高通像素数据。