[发明专利]一种方位反射角度域高斯束层析反演方法及系统有效
申请号: | 201710470484.X | 申请日: | 2017-06-20 |
公开(公告)号: | CN109100783B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 蔡杰雄;倪瑶;王守进 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
主分类号: | G01V1/28 | 分类号: | G01V1/28 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 方位 反射 角度 域高斯束 层析 反演 方法 系统 | ||
1.一种方位反射角度域高斯束层析反演方法,其特征在于,该方法包括:
利用高斯束偏移得到偏移剖面及方位反射角度域成像道集;
在偏移剖面上识别同相轴的法向方向;
从方位反射角度域成像道集中挑选出与同相轴法向方向构成符合斯奈尔定律的镜像方位反射角度;
利用挑选出的方位反射角度进行高斯束层析反投影,实现方位角度域高斯束层析反演;
其中,通过将同相轴的法向方向与方位反射角所定义的反射中心线方向做向量内积求取两个方向的夹角,判断方位反射角是否符合斯奈尔定律的镜像反射。
2.根据权利要求1所述的方位反射角度域高斯束层析反演方法,其特征在于,方位角度域高斯束层析反演得到的速度模型能够用于高斯束偏移以进行下一轮的迭代反演。
3.根据权利要求1所述的方位反射角度域高斯束层析反演方法,其特征在于,当方位反射角所定义的反射中心线与同相轴法向方向一致或接近时,确定方位反射角符合斯奈尔定律的镜像反射。
4.根据权利要求1所述的方位反射角度域高斯束层析反演方法,其特征在于,同相轴的法向方向表示为γ=(γ1,γ2,γ3),γ1,γ2,γ3分别表示空间坐标系中的三个单位分量;方位反射角度成像道集的每一个方位-反射角组合所定义的反射中心线的方向表示为ν=(ν1,ν2,ν3),ν1,ν2,ν3分别表示空间坐标系中的三个单位分量;
两个方向做向量内积:θ=arccos(γ·ν)=arccos(γ1ν1+γ2ν2+γ3ν3),求取两个方向的夹角,当所述夹角小于阈值时,该方位反射角符合斯奈尔定律的镜像反射。
5.一种方位反射角度域高斯束层析反演系统,其特征在于,该系统包括:
存储器,存储有计算机可执行指令;
处理器,所述处理器运行所述存储器中的计算机可执行指令,执行以下步骤:
利用高斯束偏移得到偏移剖面及方位反射角度域成像道集;
在偏移剖面上识别同相轴的法向方向;
从方位反射角度域成像道集中挑选出与同相轴法向方向构成符合斯奈尔定律的镜像方位反射角度;
利用挑选出的方位反射角度进行高斯束层析反投影,实现方位角度域高斯束层析反演;
其中,通过将同相轴的法向方向与方位反射角所定义的反射中心线方向做向量内积求取两个方向的夹角,判断方位反射角是否符合斯奈尔定律的镜像反射。
6.根据权利要求5所述的方位反射角度域高斯束层析反演系统,其特征在于,方位角度域高斯束层析反演得到的速度模型能够用于高斯束偏移以进行下一轮的迭代反演。
7.根据权利要求5所述的方位反射角度域高斯束层析反演系统,其特征在于,当方位反射角所定义的反射中心线与同相轴法向方向一致或接近时,确定方位反射角符合斯奈尔定律的镜像反射。
8.根据权利要求5所述的方位反射角度域高斯束层析反演系统,其特征在于,同相轴的法向方向表示为γ=(γ1,γ2,γ3),γ1,γ2,γ3分别表示空间坐标系中的三个单位分量;方位反射角度成像道集的每一个方位-反射角组合所定义的反射中心线的方向表示为ν=(ν1,ν2,ν3),ν1,ν2,ν3分别表示空间坐标系中的三个单位分量;
两个方向做向量内积:θ=arccos(γ·ν)=arccos(γ1ν1+γ2ν2+γ3ν3),求取两个方向的夹角,当所述夹角小于阈值时,该方位反射角符合斯奈尔定律的镜像反射。
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