[发明专利]一种场景中障碍物的检测方法及装置、电子设备有效

专利信息
申请号: 201710473002.6 申请日: 2017-06-21
公开(公告)号: CN107341454B 公开(公告)日: 2019-12-27
发明(设计)人: 仲维 申请(专利权)人: 海信集团有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06T7/33;G06T5/00;G06T7/90
代理公司: 11438 北京律智知识产权代理有限公司 代理人: 邢雪红;乔彬
地址: 266071 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 场景 障碍物 检测 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种场景中障碍物的检测方法,其特征在于,包括:

获取同一场景双目图像,根据所述双目图像生成视差图像,根据所述视差图像生成U-视差图和V-视差图;

分别对所述U-视差图和V-视差图中灰度值非0的像素点进行直线拟合;

根据所拟合的直线,在所述U-视差图中探测具有同一视差值的横向直线和在所述V-视差图中探测具有同一视差值的纵向直线;

根据所述横向直线与纵向直线在所述视差图像中的对应区域,确定所述视差图像中的候选障碍物区域;

根据所述候选障碍物区域在所述双目图像中的对应位置,得到所述候选障碍物区域的图像特征;

将所述候选障碍物区域的图像特征与预存储的障碍物图像特征进行比对,确定所述场景中的障碍物。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在分别对所述U-视差图和V-视差图中灰度值非0的像素点进行直线拟合之前,所述方法还包括:

分别对所述U-视差图和V-视差图进行降噪平滑处理;

将经过所述降噪平滑处理后的U-视差图和V-视差图进行二值化处理。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述分别对所述U-视差图和V-视差图中灰度值非0的像素点进行直线拟合,包括:

分别对二值化处理后的U-视差图和二值化处理后的V-视差图,利用直线拟合算法对灰度值为255的各点进行直线拟合,提取出若干条直线。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述横向直线与纵向直线在所述视差图像中的对应区域,确定所述视差图像中的候选障碍物区域,包括:

从所述U-视差图中获取所述横向直线的每个像素点的坐标,从所述V-视差图中获取所述纵向直线的每个像素点的坐标;

根据所述横向直线的每个像素点的坐标以及所述纵向直线的每个像素点的坐标确定所述视差图像中候选障碍物区域的每个像素点的位置坐标。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据候选障碍物区域在所述双目图像中的对应位置,得到所述候选障碍物区域的图像特征,包括:

根据视差图像与双目图像的像素对应关系,确定所述视差图像中的候选障碍物区域在所述双目图像中的对应位置;

获取所述候选障碍物区域在所述双目图像中对应位置的图像特征。

6.一种场景中障碍物的检测装置,其特征在于,包括:

视差图获取模块,用于获取同一场景的双目图像,根据所述双目图像生成视差图像,根据所述视差图像生成U-视差图和V-视差图;

直线拟合模块,用于分别对所述U-视差图和V-视差图中灰度值非0的像素点进行直线拟合;

直线提取模块,用于根据所拟合的直线,在所述U-视差图中探测具有同一视差值的横向直线和在所述V-视差图中探测具有同一视差值的纵向直线;

候选区域确定模块,用于根据所述横向直线与纵向直线在所述视差图像中的对应区域,确定所述视差图像中的候选障碍物区域;

特征获取模块,用于根据所述候选障碍物区域在所述双目图像中的对应位置,得到所述候选障碍物区域的图像特征;

障碍物判定模块,用于将所述候选障碍物区域的图像特征与预存储的障碍物图像特征进行比对,确定所述场景中的障碍物。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述候选区域确定模块包括:

坐标获取单元,用于从所述U-视差图中获取所述横向直线的每个像素点的坐标,从所述V-视差图中获取所述纵向直线的每个像素点的坐标;

障碍区域确定单元,用于根据所述横向直线的每个像素点的坐标以及所述纵向直线的每个像素点的坐标确定所述视差图像中候选障碍物区域的每个像素点的位置坐标。

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述特征获取模块包括:

位置关系确定单元,用于根据视差图像与双目图像的像素对应关系,确定所述视差图像中的候选障碍物区域在所述双目图像中的对应位置;

特征获取单元,用于获取所述候选障碍物区域在所述双目图像中对应位置的图像特征。

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