[发明专利]一种可编程图形序列发生系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710477618.0 申请日: 2017-06-09
公开(公告)号: CN107291421A 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 董立志;罗阳 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G06F7/58 分类号: G06F7/58
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 可编程 图形 序列 发生 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及测试技术领域,特别涉及一种可编程图形序列发生系统,还涉及一种可编程图形序列发生方法。

背景技术

目前国内外能够实现100Mb/s~12.5Gb/s连续可调技术的测试仪器并不多,主要有日本安立公司的MP1800、美国安捷伦公司的N4906B、美国泰克公司的BSA125C,其中比较典型的产品为日本安立的信号质量分析仪MP1800,测试速率覆盖100Mb/s~12.5Gb/s,输出幅度0.1V~2.0V,支持多种电平标准。在速率高达12.5Gb/s的前提下,高速可编程图形序列发生技术电路方案中所需要的MUX使用分立器件已不可能实现,而商用MUX基本上速率相对较低,不能满足如此高速率的工作要求。

由于现有的解决方案其速率低、且偏置、幅度调节范围不够宽,已不能满足串行传输技术发展的测试需要。

发明内容

为解决上述现有技术中的不足,本发明提出一种可编程图形序列发生系统及方法,解决了现有解决方案其速率低、且偏置、幅度调节范围不够宽的问题。

本发明的技术方案是这样实现的:

一种可编程图形序列发生系统,包括:字图形发生器、PRBS图形发生器、编码电路、串并变换电路、延时控制和输出驱动电路;

字图形发生器和PRBS图形发生器按用户的设置产生多种可编程字图形和伪随机图形,将写入存储电路的字图形或者设置的PRBS图形,经过编码电路进行编码,然后经过串并变换电路,将低速的并行信号转换为高速的串行信号,然后经过延时控制和输出驱动电路,将信号加入延时、直流偏置,最后经光电接口电路输出。

可选地,所述PRBS图形发生器采用并行处理方式,产生伪随机序列,由低速序列合成为高速序列,首先在1/n时钟下产生n路伪随机图形,每路图形的速率只有时钟频率的1/n,再通过图形合成器合成一路图形。

可选地,所述PRBS图形发生器包括:m序列发生器、组合逻辑电路、合成器;

m序列发生器经过组合逻辑电路,形成并行的n个m序列,然后经过n个合成器合成一路PRBS序列;

若n个速率为R的m序列移位等价,且其相位彼此相差1/n图形周期;对此n路m序列以nR的速率轮流取样,则得到速率为nR的m序列,该序列与原有的n个速率R的m序列的移位等价。

可选地,所述字图形发生器中包括:地址发生器经CPU地址选择,选择DDR3中该地址对应的用户设置字,经过移位处理电路后与接收字图形在同步检测器中进行比较,并给出同步字序列和停止信号。

可选地,字图形的获取是通过读取预先存储在高速DDR3 SDRAM内设置的字来实现的。

可选地,对接收字图形以并行处理的方式进行重新组合,对本地产生字图形采用循环求补移位的方法,实现逐比特的读出。

本发明还提出了一种可编程图形序列发生方法,字图形发生器和PRBS图形发生器按用户的设置产生多种可编程字图形和伪随机图形,将写入存储电路的字图形或者设置的PRBS图形,经过编码电路进行编码,然后经过串并变换电路,将低速的并行信号转换为高速的串行信号,然后经过延时控制和输出驱动电路,将信号加入延时、直流偏置,最后经光电接口电路输出。

可选地,所述PRBS图形发生器采用并行处理方式,产生伪随机序列,由低速序列合成为高速序列,首先在1/n时钟下产生n路伪随机图形,每路图形的速率只有时钟频率的1/n,再通过图形合成器合成一路图形;

可选地,所述PRBS图形发生器包括:m序列发生器、组合逻辑电路、合成器;

m序列发生器经过组合逻辑电路,形成并行的n个m序列,然后经过n个合成器合成一路PRBS序列;

若n个速率为R的m序列移位等价,且其相位彼此相差1/n图形周期;对此n路m序列以nR的速率轮流取样,则得到速率为nR的m序列,该序列与原有的n个速率R的m序列的移位等价。

可选地,所述字图形发生器中包括:地址发生器经CPU地址选择,选择DDR3中该地址对应的用户设置字,经过移位处理电路后与接收字图形在同步检测器中进行比较,并给出同步字序列和停止信号。

本发明的有益效果是:

(1)测试速率可以实现100Mb/s~12.5Gb/s连续可调,偏置-0.2V~3.3V连续可调,幅度0.1V~2.0V连续可调的可编程图形序列发生电路设计;

(2)很好地满足多种电平标准如NECL、SCFL、NCML、PCML、LVPECL、LVDS的串行传输测试的需求。

附图说明

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