[发明专利]一种电容式结霜厚度检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种电容式结霜厚度检测装置，其特征在于：采样区电容极板(21)、中间电容极板(22)和基准区电容极板(23)依次平行等间距固定于固定支架(1)上，所述采样区电容极板(21)与所述中间电容极板(22)之间形成采样区(31)，所述中间电容极板(22)与所述基准区电容极板(23)之间形成基准区(32)，所述基准区(32)以基准介质填充；采样电路(4)连接于所述采样区电容极板(21)外侧，并通过数据传输线(5)连接至数据存储分析装置。

2.根据权利要求1所述的一种电容式结霜厚度检测装置，其特征在于：所述采样区电容极板(21)、所述中间电容极板(22)和所述基准区电容极板(23)的面积均为S，所述采样区电容极板(21)与所述中间电容极板(22)及所述中间电容极板(22)与所述基准区电容极板(23)之间的距离均为d。

3.根据权利要求1所述的一种电容式结霜厚度检测装置，其特征在于：所述基准介质的介电常数与冰霜相等。

4.根据权利要求1所述的一种电容式结霜厚度检测装置，其特征在于：所述采样电路(4)为单片机AD。

5.根据权利要求1所述的一种结霜厚度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)通过采样电路(4)检测中间电容极板(22)和基准区电容极板(23)之间的电容值，得到基准电容C，并将基准电容C转化为基准模拟采样值AD，传递至数据存储分析装置；

2)通过采样电路(4)检测采样区电容极板(21)与中间电容极板(22)之间的电容值，得到初始电容C₀，并将初始电容C₀转化为初始模拟采样值AD₀，传递至数据存储分析装置；

3)数据存储分析装置得出距离d对应的模拟采样值变化绝对值ΔAD＝|AD-AD₀|；

4)结霜后，通过采样电路(4)检测采样区电容极板(21)与中间电容极板(22)之间的电容值，得到检测电容C_t，并将检测电容C_t转化为检测模拟采样值AD_t，传递至数据存储分析装置；

5)数据存储分析装置得出电容差值ΔC_t＝C₀-C_t，并将电容差值ΔC_t转化为模拟采样值差值ΔAD，则结霜厚度的增加量