[发明专利]一种图像、光谱、偏振态一体化获取装置及探测方法有效
申请号: | 201710482098.2 | 申请日: | 2017-06-22 |
公开(公告)号: | CN107367329B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 张淳民;李祺伟;颜廷昱;穆廷魁 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/447;G01J3/45 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 刘强 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 光谱 偏振 一体化 获取 装置 探测 方法 | ||
1.一种图像、光谱、偏振态一体化获取装置,其特征在于,沿入射光的主光轴方向依次设有前置望远系统(1)、消色差波片阵列(2)、起偏器(3)、Savart偏光镜(4)、检偏器(5)、成像镜阵列(6)及CCD探测器(7);构建xyz坐标系,所述入射光的主光轴为Z轴,所述xyz坐标系满足右手定则;所述入射光经前置望远系统(1)准直后变为平行光,平行光通过消色差波片阵列(2)及起偏器(3)分解为四束调制状态不同的光,四束调制状态不同的光经过Savart偏光镜(4)、检偏器(5)及成像镜阵列(6)后在CCD探测器(7)的四个象限区域上分别得到调制谱的干涉图;
所述消色差波片阵列(2)包括第一消色差波片(21)、第二消色差波片(22)、第三消色差波片(23)及第四消色差波片(24);所述第一消色差波片(21)的快轴方向、第二消色差波片(22)的快轴方向、第三消色差波片(23)的快轴方向和第四消色差波片(24)的快轴方向与x轴正向的夹角分别为0°、30°、-45°和60°;
所述Savart偏光镜(4)左板的光轴位于与z轴成45°夹角,在y轴正向与x轴正向构成的平面内的投影与x轴正向成45°夹角;所述Savart偏光镜(4)右板的光轴位于与z轴成45°夹角、在y轴正向与x轴负向构成的平面内的投影与x轴正向成-45°夹角。
2.根据权利要求1所述的图像、光谱、偏振态一体化获取装置,其特征在于,所述起偏器(3)的透振方向与x轴正向的夹角为0°。
3.根据权利要求1所述的图像、光谱、偏振态一体化获取装置,其特征在于,所述检偏器(5)的透振方向与x轴正向的夹角为0°。
4.根据权利要求1所述的图像、光谱、偏振态一体化获取装置,其特征在于,所述成像镜阵列(6)包括第一成像镜(61)、第二成像镜(62)、第三成像镜(63)及第四成像镜(64);所述CCD探测器(7)的感光面位于成像镜阵列(6)的像方焦平面上。
5.一种根据权利要求1所述图像、光谱、偏振态一体化获取装置的探测方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据偏振光学原理,空间点(x,y)发出光束的Stokes矢量S(x,y,λ)为:
其中S0为光束总能量,S1为0°方向线偏振光与90°方向线偏振光强度之差,S2为45°方向线偏振光与135°方向线偏振光强度之差,S3为右旋圆偏振光与左旋圆偏振光强度之差,(x,y)为目标的空间坐标,σ为探测目标波数;
消色差波片的穆勒Mueller矩阵为:
其中,θ为消色差波片的快轴方向与x轴正向的夹角;
偏振器阵列的Muller矩阵为:
其中θ为偏振器的透振方向与x轴正向夹角;
入射光经望远系统1准直、消色差波片阵列2及起偏器3调制后形成偏振状态不同的四束光,其中,任一束光的偏振态均由Stokes矢量表示为[S0 S1 S2 S3]T,任一束光的偏振态均为:
其中,θ1为该光束对应消色差波片的快轴方向与x轴正向的夹角,θ2为该光束对应偏振片的透振方向与x轴正向的夹角;
通过Stokes矢量描述入射光的光谱及偏振信息时,只考虑入射光的S0分量调制情况,入射光经前置望远系统(1)准直后变为平行光,平行光通过消色差波片阵列(2)及起偏器(3)分解为四束调制状态不同的光,四束调制状态不同光的S0分量分别为:
以上式中,σ为波数;四束调制状态不同光偏振方向与x轴正向的夹角均为0°,然后经过Savart偏光镜(4)、检偏器(5)及成像镜阵列(6)后在CCD探测器(7)的四个象限区域上分别得到调制谱的干涉图:
上式中,为Savart偏光镜(4)产生的相位差,Δ为光程差,上述四幅干涉图任取一副进行取背景低通滤波,获得目标的图像;分别对干涉图IPath1、IPath2、IPath3、IPath4进行傅里叶变换光谱复原,得及
入射光的全部Stokes参数通过及复原为:
得入射光的全部Stokes矢量谱[S0 S1 S2 S3]T。
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