[发明专利]扬声器T/S参数测试方法和测试装置

权利要求书

1.一种侧出声扬声器模组T/S参数测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

在侧出声扬声器模组前腔开放的状态下测试所述侧出声扬声器模组的电声参数组，所述电声参数组包括灵敏度曲线、总谐波失真曲线和阻抗曲线，所述侧出声扬声器模组包括扬声器单体和容纳所述扬声器单体的外壳，所述扬声器单体和所述外壳之间形成有封闭的背腔和开放的前腔；

封闭所述侧出声扬声器模组的前腔，并测试密封后侧出声扬声器模组的阻抗曲线；

分别提取所述电声参数组和所述密封后侧出声扬声器模组的阻抗曲线的特征参数，所述电声参数组的特征参数包括谐振频率、直流电阻、最大阻抗、第一频率和第二频率，所述密封后侧出声扬声器模组的阻抗曲线的特征参数包括密封后侧出声扬声器模组的谐振频率，所述谐振频率是指所述侧出声扬声器模组的阻抗曲线上第一个极大值对应的频率，所述直流电阻是指在音圈线圈静止的情况下，通以直流信号而测试出的阻抗值，所述最大阻抗是指阻抗曲线在谐振频率处的峰值，所述第一频率和所述第二频率是以所述谐振频率为中心近似对称分布且阻抗曲线在所述第一频率和所述第二频率处的阻抗值相等；以及，

根据所述侧出声扬声器模组的所述谐振频率、所述直流电阻、所述最大阻抗、所述第一频率和所述第二频率以及所述密封后的侧出声扬声器模组的谐振频率，计算获取所述侧出声扬声器模组的T/S参数。

2.一种扬声器T/S参数测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

预先将扬声器单体固定在具有背腔的测试装置中形成前腔和背腔；

在扬声器前腔开放的状态下测试所述扬声器的电声参数组，所述电声参数组包括灵敏度曲线、总谐波失真曲线和阻抗曲线，所述扬声器为扬声器单体；

封闭所述扬声器的前腔，并测试密封后扬声器的阻抗曲线；

分别提取所述电声参数组和所述密封后扬声器的阻抗曲线的特征参数，所述电声参数组的特征参数包括谐振频率、直流电阻、最大阻抗以及以谐振频率为中心对称且对称处阻抗值相同的第一频率和第二频率，所述密封后扬声器的阻抗曲线的特征参数包括密封后扬声器的谐振频率，所述谐振频率是指所述扬声器的阻抗曲线上第一个极大值对应的频率，所述直流电阻是指在音圈线圈静止的情况下，通以直流信号而测试出的阻抗值，所述最大阻抗是指阻抗曲线在谐振频率处的峰值，所述第一频率和所述第二频率是以所述谐振频率为中心近似对称分布且阻抗曲线在所述第一频率和所述第二频率处的阻抗值相等；以及，

根据所述扬声器的谐振频率、直流电阻、最大阻抗、第一频率和第二频率以及所述密封后的扬声器的谐振频率，计算获取所述扬声器的T/S参数。

3.根据权利要求2所述的扬声器T/S参数测试方法，其特征在于，所述计算获取所述扬声器的T/S参数包括：

根据所述密封后的扬声器的谐振频率以及扬声器的谐振频率计算所述扬声器的振动系统质量。

4.根据权利要求3所述的扬声器T/S参数测试方法，其特征在于，计算获取所述扬声器的T/S参数还包括：

根据所述扬声器的谐振频率、直流电阻、最大阻抗以及所述第一频率和第二频率计算所述扬声器的总阻尼因数(Q_ts)、机械阻尼因数(Q_ms)、电磁阻尼因数(Q_es)；以及，

根据计算获得的振动系统质量、机械阻尼因数(Q_ms)、谐振频率以及直流电阻计算所述扬声器的顺性、力阻、声顺的等效容积以及磁通量密度与音圈长度的乘积。

5.根据权利要求2所述的扬声器T/S参数测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括预先对具有标准参数的扬声器进行测试以校准测试设备。

6.一种扬声器T/S参数测试装置，包括：

第一盖板，所述第一盖板的内部设置有开口的容置空腔，所述容置空腔的底部设置有凸起，并被设置为适于容纳扬声器单体；

第二盖板，所述第二盖板设置于所述第一盖板开口的两端，并向开口的中心伸出形成凸台；

密封件，适于以密封的方式与所述第二盖板连接，以密封所述第一盖板的容置空腔；

其中，所述容置空腔容纳有扬声器单体时，所述凸起与所述扬声器单体的背部连接，所述扬声器单体的背部与所述第一盖板、第二盖板形成背腔，所述第二盖板与所述扬声器单体的发声部连接，所述扬声器单体的发声部与所述第二盖板、所述密封件形成前腔。