[发明专利]测试器的适配器的公共板、测试器的适配器以及测试器

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年7月28日在韩国知识产权局(KIPO)递交的韩国专利申请No.2016-0095973的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

示例实施例涉及一种用于测试器的适配器的公共板、包括公共板的测试器的适配器以及包括公共板的测试器。更具体地，示例实施例涉及一种用于测试器的适配器的公共板、包括公共板的测试器的适配器以及包括公共板的测试器，其中所述测试器可以用于测试不同类型的对象。

背景技术

通常，测试器可以用于测试半导体封装的电特性。测试器可以包括测试头和适配器。测试头可以被配置为产生测试信号。适配器可以与测试头电连接。多个半导体封装可以安装在适配器上。

根据相关技术，适配器可以包括与半导体封装的外部端子相对应的导线。因此，当一种半导体封装改变为其它类型的新的半导体封装时，可以将适配器替换为新的适配器，该新的适配器包括可与该新的半导体封装的外部端子相对应的导线，从而增加用于制造适配器的成本。此外，由于半导体封装可能是高度集成的，因此可能在适配器上的相邻半导体封装之间产生噪声。噪声可能导致测试结果的可靠性降低。

发明内容

示例实施例提供了一种可以公共地用于测试对象的公共板，而不管附接到该公共板的不同类型的对象。

示例实施例还提供了一种用于测试器的适配器，所述测试器包括能够降低噪声的上述公共板。

示例实施例还提供了一种包括上述公共板的测试器。

根据示例实施例，可以提供一种用于测试器的适配器的公共板。该公共板可以包括公共绝缘板、公共测试信号线、公共电力线和公共接地线。公共测试信号线可以布置在公共绝缘板中以向至少一个对象提供测试信号。公共电力线可以布置在公共绝缘板中以向所述至少一个对象提供电力。公共接地线可以布置在公共绝缘板中以将所述至少一个对象接地。

根据示例实施例，可以提供一种用于测试器的适配器。该适配器可以包括公共板和适配板。公共板可以被配置为接收用于测试至少一个对象的测试信号。适配板可以与公共板可拆卸地连接。适配板可以与所述至少一个对象电连接，以向所述至少一个对象发送测试信号。

根据示例实施例，可以提供一种用于测试器的适配器。该适配器可以包括绝缘板、测试信号线、电力线和接地线。测试信号线可以布置在绝缘板中以向至少一个对象提供测试信号。电力线可以布置在绝缘板中以向所述至少一个对象提供电力。电力线可以具有电磁带隙(EBG)结构。接地线可以布置在绝缘板中以将所述至少一个对象接地。

根据示例实施例，可以提供一种用于测试器的适配器。该适配器可以包括绝缘板、测试信号线、电力线和接地线。测试信号线可以布置在绝缘板中以向至少一个对象提供测试信号。电力线可以布置在绝缘板中以向所述至少一个对象提供电力。接地线可以布置在绝缘板中以将所述至少一个对象接地。接地线可以具有电磁带隙(EBG)结构。

根据示例实施例，可以提供一种测试器。该测试器可以包括测试头和适配器。测试头可以被配置为产生用于测试至少一个对象的测试信号。适配器可以包括公共板和适配板。公共板可以被配置为接收用于测试至少一个对象的测试信号。适配板可以与公共板可拆卸地连接。适配板可以与所述至少一个对象电连接，以向所述至少一个对象发送测试信号。

根据示例实施例，适配器可以包括公共板和与公共板分离的适配板。此外，适配板可以与公共板可拆卸地连接。

附图说明

根据结合附图的以下详细描述，将更清楚地理解示例实施例。图1A至图14表示本文所述的非限制性示例实施例。

图1A是示出了根据示例实施例的测试器的示例框图；

图1B是示出了根据示例实施例的测试器的前视图；

图2是示出了图1A和图1B中的测试器的接口单元的透视图；

图3是图2中的接口单元的部分III的放大分解透视图；

图4是示出了图3中的适配器的放大截面图；

图5是示出了根据示例实施例的适配器的截面图；

图6是示出了图5中的公共接地线的放大截面图；

图7是示出了图6的公共接地线的平面图；

图8是示出了根据示例实施例的适配器的截面图；

图9是示出了图8中的公共电力线的放大截面图；

图10是示出了图9中的公共电力线的平面图；

图11是示出了根据示例实施例的适配器的截面图；

图12是示出了根据示例实施例的适配器的截面图；