[发明专利]一种识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法

权利要求书

1.一种识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：将QFN引线框架上的QFN产品进行排列，对每个QFN产品定义一个单颗排列矩阵，同一QFN引线框架上的不同QFN产品的单颗排列矩阵不同；所述单颗排列矩阵的整个矩阵中只有一个元素是蚀刻点；

S2：在单颗QFN产品的芯片基座增加蚀刻的点，得到蚀刻的点的排列矩阵，且蚀刻的点的排列矩阵与步骤S1中单颗FNQ产品的单颗排列矩阵相对应；在单颗QFN产品的芯片基座增加蚀刻的点的方法为干蚀刻或湿蚀刻中的一种；

S3：分别获取步骤S1中单颗QFN产品在引线框架上单颗排列矩阵的位置信息与步骤S2中单颗QFN产品芯片基座增加蚀刻的点的排列矩阵的位置信息，将分别获取的两种位置信息相对应；然后取消待识别的单颗QFN产品在芯片基座相对应位置的蚀刻点；

S4：检查单颗QFN产品在芯片基座增加蚀刻的点的排列矩阵，获取检查结果，获取单颗QFN产品芯片基座增加蚀刻的点的排列矩阵中缺少的蚀刻点的位置信息，并将所述缺少的蚀刻点的位置信息与QFN框架上的单颗QFN产品的位置信息相对应，得到单颗QFN产品在QFN框架上面的位置。

2.根据权利要求1所述的识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，所述识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法可实现对有特殊产品位置要求的实验。

3.根据权利要求1所述的识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，QFN框架上共有N行M列单颗产品，排列矩阵为N×M的矩阵。