[发明专利]一种射频同轴继电器遥测触点机构

说明书

技术领域

本发明涉及一种射频同轴继电器遥测触点机构。

背景技术

射频继电器通常有单刀双掷，双刀双掷及单刀多掷等类型，现有的技术方案主要分三种，一种是使用干簧管做为遥测触点，驱动干簧管的线圈与驱动射频触点通断的线圈并联，此种方式的遥测触点只能显示驱动干簧管的线圈是否供电，并不能指示射频触点是否动作。第二种方式，遥测触点采用与射频触点机械联动的方式，此种方式的结构为：其由动簧片、静触点和辅助推杆组成，动簧片为呈条状，贴着电路板表面放置，一端为固定端焊接在电路板上，另一端对辅助推杆运动，静触点为表面镀金的U形铜丝，焊接在电路板上，并跨在动簧片运动端的上方，辅助推杆为由耐磨、轻质的PEI材料制成的细长杆，放置在高频继电器铁芯的中心孔中正对动簧片，且辅助推杆与动簧片的接触点在动簧片长度方向的中部。遥测触点的接触压力是依靠动簧片本身的变形量而产生，遥测触点与辅助推杆之间形成一个费力杠杆，遥测触点的接触压力较小，而且这种的方式的动触点和静触点为线和面接触接触点不固定，接触压力小，电阻变化大。第三种方式，遥测触点采用与射频触点机械联动的方式，此种方式遥测触点的接触压力是依靠动簧片本身的变形量而产生，接触压力较小，且触点间接触位置固定，不容易清除污染物，长期工作后，触点间接触电阻增大、接触不良，最终造成触点失效。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种射频同轴继电器遥测触点机构，其触点的接触电阻小，抗污染能力强，工作寿命长。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种射频同轴继电器遥测触点机构，它包括静触点、动簧片、电路板、辅助推杆；

动簧片采用厚度0.1毫米、表面镀金的长方形铍青铜片，动簧片长度方向的一端焊接在电路板上；

静触点采用表面镀金的铜丝，静触点大体呈倒置U形，静触点通过其开口侧与电路板焊接；

静触点横跨动簧片的长度方向中部，辅助推杆的材料为聚醚酰亚胺材料，辅助推杆自下而上穿经电路板且与动簧片的长度方向的另一端接触。

为简单说明问题起见，以下对本发明所述的一种射频同轴继电器遥测触点机构均简称为本遥测触点机构。

本遥测触点机构的优点：本发明所述的一种射频同轴继电器遥测触点机构，其静触点位于动簧片长度方向的中部，辅助推杆与动簧片的接触点位于远离动簧片与电路板焊接的一端。静触点的力臂小于辅助推杆与动簧片接触点的力臂，整体一个构成省力杠杆，所以静触点处的压力较大，可以减小接触电阻，增加了可靠性也延长了使用寿命。

本遥测触点机构的原理及解释：优良的遥测触点要求在寿命周期内，触点之间具有小且稳定的接触电阻。根据接触电阻经验公式：

式中：F_j为触点压力(N)，R_j接触电阻(μΩ)，K_j为材料系数、m为与接触面形状、接触形式等有关的系数。

根据上式，增加触点的接触压力就可以有效降低电阻，这也是十分有效且成本低廉的方式。

为达到本发明更好的使用效果，优选方案如下：

作为优选的：所述的静触点的封闭侧的形状呈下伸的弧形。

动簧片与静触点接触时，辅助推杆继续向上位移，动簧片发生形变并绕静触点封闭侧的下伸的弧形处相对运动。可以有效的去除长期使用后静触点上的氧化膜及有机污染物，可以更加有效的减小接触电阻，提高稳定性，延长工作寿命。

附图说明

图1是本遥测触点机构的结构示意图。

图2是图1的A-A剖视图。

图3为安装有本遥测触点机构的射频同轴继电器的结构示意图。

具体实施方式

如图1-2所示，一种射频同轴继电器遥测触点机构，它包括静触点1、动簧片2、电路板3、辅助推杆4；

动簧片2采用厚度0.1毫米、表面镀金的长方形铍青铜片，动簧片2长度方向的一端焊接在电路板3上(所述一端为固定端)，以致动簧片2贴放在电路板3上；

静触点1采用表面镀金的铜丝，静触点1大体呈倒置U形，静触点1通过其开口侧与电路板3焊接，静触点1横跨动簧片2的长度方向中部，静触点1的封闭侧的形状呈下伸的弧形；

辅助推杆4的材料为聚醚酰亚胺材料，辅助推杆4自下而上穿经电路板3 与动簧片2的长度方向的另一端接触(所述另一端为摆动端)。

动簧片2上远离其一端的片体随辅助推杆4产生上举、下落的往复摆动，辅助推杆4的下侧插放在射频同轴继电器的铁芯5的中心孔内。