[发明专利]一种电子元器件外观图像采集装置及其采集方法有效
申请号: | 201710499912.1 | 申请日: | 2017-06-27 |
公开(公告)号: | CN107389687B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 刘云贺;王珂;陈俊彰;梁继远;宋志超;李旭红;敬毅超;阎昕 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子元器件 外观 图像 采集 装置 及其 方法 | ||
一种电子元器件外观图像采集装置,它包括四个单元:分别是两个硬件单元:图像采集单元、运动控制单元,以及两个软件单元:图像处理单元、信息管理单元;该装置的采集方法,包括以下步骤:1.电子元器件高度测量;2.电子元器件长宽测量;3.电子元器件斜侧图像采集;4.电子元器件端面图像采集;5.电子元器件侧面图像采集。通过以上步骤,配合本发明提供的电子元器件外观采集装置,首先进行电子元器件的尺寸测量,然后根据尺寸信息自动化走位,实现了对不同尺寸电子元器件的高分辨率、自动化采集,对同型号不同批次电子元器件的标准化采集。
(一)技术领域
本发明涉及一种电子元器件外观图像采集装置及其采集方法,属于电子电器及信息处理技术领域。
(二)背景技术
随着信息化时代的持续发展,各个领域都在不断创新,这也给电子行业带来了巨大的市场需求和发展空间,并推动了电子元器件产业的快速发展。但是随着电子元器件的数量、品种大幅度增加,也对其检测工作造成了困难。
对电子元器件的外观检测,是检测工作的第一流程。为了提高对外观检测工作的稳定性、可追溯性,通常需要采集电子元器件外观图像。常规的方法是通过人工手持拍摄器材来采集图像,但是人工拍摄中存在以下问题:
第一,由于分批订购电子元器件,质检操作员很难保证以同样的放大倍数、拍摄角度、光源亮度等拍摄参数来采集同型号不同批次电子元器件的图像,这样可能会导致前后图像上的差异,影响检测工作的进展,造成不必要的工作量浪费。
第二,由于电子元器件的在尺寸上存在差异,比如尺寸较大的模块器件和尺寸较小的表贴器件相差十几倍,受限于拍摄器材的限制,往往很难满足适应不同尺寸的拍摄需求。在采集大尺寸电子元器件图像时,需要降低放大倍数以增大观察视场,使目标充满整个视野,但同时也降低了目标物体图像的空间分辨率;在采集小尺寸电子元器件的图像时,需要增大放大倍数以减小观察视场,使目标充满整个视野,降低了拍摄的稳定性,呼吸的气流和空气的波动对拍摄影响较大,也可能出现采集不到清晰的目标图像的情况。
综上所述,目前的人工手持拍摄器材采集图像存在着偶然性大、尺寸适应性差的问题。
(三)发明内容
1、目的:
为了解决上述问题,本发明提供一种电子元器件外观图像采集置及其采集方法,实现可以对不同尺寸电子元器件图像的高分辨率、自动化采集,对同型号不同批次电子元器件图像的标准化采集。
2、技术方案:
(一)根据本发明的一个方面,提供一种电子元器件外观图像采集装置,包括三个单元:分别是两个硬件单元:图像采集单元、运动控制单元,以及一个软件单元:主控制单元。
所述的图像采集单元接收来自主控制单元的同型号电子元器件的拍摄参数,以保证同型号不同批次的电子元器件前后图像采集的一致性;图像采集单元将低分辨率电子元器件图像传递给主控制单元进行尺寸信息计算,将多张高分辨率的大尺寸电子元器件局部图像传递给主控制单元进行图像拼接操作,将低分辨率斜侧图像、高分辨率小尺寸电子元器件图像、拍摄参数传递给主控制单元进行数据管理;
所述的运动控制单元接收来自主控制单元计算得到的电子元器件尺寸信息,根据尺寸信息将电子元器件移动到图像采集单元的拍照位置,根据尺寸信息判断是否需要拼接采集、拼接采集的走位模式、旋转采集的走位模式;
所述的主控制单元接收来自图像处理单元传递的图像和拍摄参数并进行相应处理,包括对低分辨率电子元器件图像进行尺寸计算操作,对高分辨率大尺寸电子元器件局部图像进行图像拼接操作;主控制单元将同型号器件的拍摄参数传递给图像采集单元实现同型号电子元器件前后图像的标准化采集;主控制单元将计算得到的尺寸信息传递给运动控制单元实现自动走位采集;主控制单元实现对图像、拍摄参数、尺寸信息、文字信息的数据管理;
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