[发明专利]高压元件有效
申请号: | 201710505678.9 | 申请日: | 2017-06-28 |
公开(公告)号: | CN109148606B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 萧世楹;张凯焜;杨庆忠 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/40 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 高压 元件 | ||
1.一种高压元件,包含有:
半导体基底,具有第一导电型;
第一离子阱,具有第二导电型;
萧基二极管,设于该第一离子阱中;
绝缘结构,设于该第一离子阱中,且环绕该萧基二极管;以及
辅助栅极,仅设于该绝缘结构上,环绕该萧基二极管,其中该辅助栅极经由第一接触元件、内连线以及第二接触元件电连接至该萧基二极管,其中该第一接触元件连接于该辅助栅极,该第二接触元件连接于该萧基二极管,且该内连线连接于第一接触元件和第二接触元件之间。
2.如权利要求1所述的高压元件,其中该萧基二极管包含硅化金属层,直接接触该第一离子阱。
3.如权利要求1所述的高压元件,其中另包含第二离子阱,具有该第一导电型,位于该第一离子阱中,其中该第二离子阱设于该绝缘结构的一内侧,环绕该萧基二极管,并与该绝缘结构的一内侧部分重叠。
4.如权利要求3所述的高压元件,其中另包含硅化金属阻障层,位于该第二离子阱上,环绕该萧基二极管,并延伸至该绝缘结构的该内侧部分的上方。
5.如权利要求4所述的高压元件,其中另包含第一重掺杂区,具有该第一导电型,位于该萧基二极管与该绝缘结构之间,且该第一重掺杂区环绕该萧基二极管。
6.如权利要求3所述的高压元件,其中另包含一阴极,位于该第一离子阱中,且该阴极设于该绝缘结构的一外侧,环绕该绝缘结构的一外侧部分。
7.如权利要求6所述的高压元件,其中该绝缘结构的该外侧部分的厚度小于该绝缘结构的该内侧部分的厚度。
8.如权利要求6所述的高压元件,其中该辅助栅极仅接触该绝缘结构的该外侧部分。
9.如权利要求6所述的高压元件,其中该辅助栅极包含第一部分,位于该绝缘结构的该外侧部分的一表面上,以及第二部分,深入到该绝缘结构的该外侧部分中。
10.如权利要求1所述的高压元件,其中该第一导电型为P型,该第二导电型为N型。
11.如权利要求1所述的高压元件,其中该辅助栅极包含多晶硅。
12.如权利要求1所述的高压元件,其中该半导体基底包含硅基底、外延半导体基底或硅覆绝缘基底。
13.如权利要求4所述的高压元件,其中该辅助栅极不直接接触到该硅化金属阻障层。
14.一种高压元件布局结构,包含有:
半导体基底,具有第一导电型;
第一离子阱,具有第二导电型;
萧基二极管,设于该第一离子阱中;
环状绝缘结构,设于该第一离子阱中,且环绕该萧基二极管;以及
环状辅助栅极,仅设于该绝缘结构上,环绕该萧基二极管,其中该环状辅助栅极经由第一接触元件、内连线以及第二接触元件电连接至该萧基二极管,其中该第一接触元件连接于该辅助栅极,该第二接触元件连接于该萧基二极管,且该内连线连接于第一接触元件和第二接触元件之间。
15.如权利要求14所述的高压元件布局结构,其中另包含环状第二离子阱,具有该第一导电型,位于该第一离子阱中,其中该环状第二离子阱设于该环状绝缘结构的一内侧,环绕该萧基二极管,并与该环状绝缘结构的内侧部分重叠。
16.如权利要求15所述的高压元件布局结构,其中另包含环状硅化金属阻障层,位于该环状第二离子阱上,环绕该萧基二极管,并延伸至该环状绝缘结构的该内侧部分的上方。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710505678.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类