[发明专利]用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法

权利要求书

1.一种用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，获取m组标定数据(x_i,y_i)，i＝1,2,3…m，x_i表示标准样本的浓度值，y_i表示光信号值；

步骤2，建立数学模型表达式如下：

u(x)=Σj=0najxj---(1)]]>

令上述公式(1)中的a_j组成向量A，

A＝[a₀ a₁ ... a_n]^T

则A可由下式计算得到：

A＝S^-1B (2)

公式(2)中，

S=s1s2...sns2s3...sn+1............snsn+1...s2n-1---(3)]]>

B＝[b₁ b₂ ... b_n]^T (4)

上述公式(3)中，

上述公式(4)中，。

2.根据权利要求1所述的用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其特征在于，当所述步骤1中标准样本浓度数量级跨度≥8时，先对浓度数据进行降幂运算，降低其数量级跨度，然后再进行所述步骤2。

3.根据权利要求2所述的用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其特征在于，所述降幂运算采用取对数的方式进行。

4.根据权利要求1、2或3所述的用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其特征在于，所述数学模型中，多项式次数n取值为3、4或5，所述步骤1中m取值大于n。

5.根据权利要求4所述的用于化学发光免疫检测的基于样条插值算法的曲线拟合方法，其特征在于，所述步骤1中m取值为10。