[发明专利]勘测装置、高度测量系统和用于测量高度的方法

权利要求书

1.一种用于确定目标点的位置的勘测装置(1)，该勘测装置包括：

用于朝向所述目标点定向所述勘测装置(1)的目标轴线的装置，

角度测量单元，该角度测量单元用于所述目标轴线的所述定向的高精确检测，以及

用于数据存储的评估装置，

高度测量系统(40)，该高度测量系统(40)用于借助于三角测量确定所述勘测装置(1)在地面(30)上方的高度，

所述勘测装置(1)的特征在于：

所述高度测量系统(40)包括：

激光垂准器(41)，该激光垂准器(41)用于将激光束(43)沿着所述勘测装置(1)的竖轴线(7)发射到地面点(3)上，和

检测单元(42)，该检测单元(42)包括用于检测所述激光束(43)的扩散向后散射的线传感器(48)，该扩散向后散射为所述激光束(43)在照射到地面时所产生的具有扩散性和向后散射性的反射光，

其中，所述检测单元(42)包括用于检测所述激光束(43)的所述扩散向后散射的线性视场(44)，并且所述高度测量系统(40)包括用于将线性激光标记(49)投射到所述地面(30)上的线激光单元(47)，

其中，所述高度测量系统(40)被设计为基于所述扩散向后散射在所述线传感器(48)上的位置来确定所述勘测装置(1)在所述地面点(3)上方的高度(h)，并且

其中，所述高度测量系统(40)被设计为基于所述地面(30)上的检测到的线性激光标记(49)得到强度轮廓，并且基于该强度轮廓检测位于所述地面(30)上的标准化地面目标(31)的尺寸、相对位置或类型。

2.根据权利要求1所述的勘测装置(1)，其中，所述勘测装置(1)为大地测量勘测装置，该勘测装置(1)包括：

底座(13)，

支架(12)，该支架绕着竖轴线(7)相对于所述底座(13)能够旋转，以及

瞄准装置(11)，该瞄准装置绕着横轴线(8)相对于所述支架(12)能够转动，并且包括限定光学目标轴线的物镜单元(15)。

3.根据权利要求2所述的勘测装置(1)，其中，所述勘测装置(1)为经纬仪、全站仪或激光扫描仪。

4.根据权利要求2所述的勘测装置(1)，其中，所述勘测装置(1)包括用于所述支架(12)的机动化旋转且用于所述瞄准装置(11)的机动化转动的装置，并且所述评估装置被设计为控制所述瞄准装置(11)的所述定向。

5.根据权利要求1或权利要求2所述的勘测装置(1)，

所述勘测装置(1)的特征在于：

所述检测单元(42)和所述激光垂准器(41)以所述高度测量系统(40)满足Scheimpflug条件即使得所述地面点总是被以最大锐利度成像在所述线传感器(48)上的方式相对于彼此设置。

6.根据权利要求5所述的勘测装置(1)，其中，所述激光垂准器(41)和所述线传感器(48)相对于彼此被设置在已知的空间位置。

7.根据权利要求1所述的勘测装置(1)，其中，所述激光垂准器(41)和所述线激光单元(47)形成一个单元。

8.根据权利要求1所述的勘测装置(1)，其中，该标准化地面目标(31)为界石或勘测标志物。

9.根据权利要求1所述的勘测装置(1)，其中，所述线激光单元(47)和所述线传感器(48)以所述线性激光标记(49)至少能够大部分投射到所述视场(44)中的方式相对于彼此固定设置，并且所述线传感器(48)被设计为至少部分检测所述线性激光标记(49)。