[发明专利]一种通用的黑盒测试用例自动生成方法在审
申请号: | 201710513317.9 | 申请日: | 2017-06-21 |
公开(公告)号: | CN109101413A | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 曹建平;付战平;高富东;孙忠云;田涛;朱国涛 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军航空工程学院青岛校区 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 266041 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 待测软件 二进制序列 输入接口 自动生成 测试 动态内存 黑盒测试 通用的 测试用例自动生成 软件测试技术 方法生成 筛选条件 输入参数 随机抽样 字节数 编程 内存 解析 抽象 筛选 递增 占用 计算机 期望 申请 | ||
1.一种通用的黑盒测试用例自动生成方法,其特征在于,包括以下步骤:
a)、由用户给出待测软件模块M的输入接口参数集合IS;
b)、根据所述输入接口参数集合IS得到其字节数大小CB,申请大小为CB字节的动态内存DM,并获取所述动态内存DM的首地址DMA;
c)、根据所述首地址DMA寻址到所述动态内存DM,并生成二进制序列BSD;
d)、利用所述输入接口参数集合IS解析二进制序列BSD,得到实例化的测试样本数据ITD;
e)、由用户给出筛选条件FC,判断所述测试样本数据ITD是否符合所述筛选条件FC,如果符合则进入步骤f),否则转向步骤c);
f)、由用户给出测试期望ER,由所述测试数据ITD与所述测试期望ER组成一组测试用例TS。
2.根据权利要求1所述的通用的黑盒测试用例自动生成方法,其特征在于,所述步骤c)利用动态内存递增方法生成所述数据块BSD,包括以下步骤:
c00)、将所述动态内存DM划分成连续子动态内存空间DM(i),DM(i)表示地址在DMA+i,长度为1字节的内存所存储的值,其中i表示子内存空间相对于首地址的以字节为单位的偏移量,为无符号整数,取值从0到CB-1;
c01)、由用户给出递增步长IV,获取所述动态内存DM首地址DMA,设置当前递增步长CIV为IV,设置当前偏移量i为0,所述递增步长IV是无符号整数,其值不小于1且不大于255;
c02)、根据内存地址偏移量i得出当前动态内存地址CDMA=DMA+i,并通过CDMA寻址获取该字节上存放的值CV并存放在寄存器TV中;
c03)、将所述CIV值与所述CV值相加后赋值给CV;
c04)、判断是否满足以下条件:所述CV小于所述CIV并且所述内存地址偏移量i小于(CB-1),如果满足则进入步骤c05),如果不满足则表示结束并退出;
c05)、设置所述递增步长CIV=(CIV+TV)/256,所述内存地址偏移量i=i+1,并转向步骤c02)。
3.根据权利要求2所述的通用的黑盒测试用例自动生成方法,其特征在于,所述步骤c01)中递增步长IV设置为1。
4.根据权利要求1所述的通用的黑盒测试用例自动生成方法,其特征在于,所述步骤c)采用随机抽样方法生成二进制数据块BSD,包括以下步骤:
c10)、以字节为单位将所述动态内存DM划分成连续的子动态内存DM(i),所述DM(i)表示首地址在DMA+i长度为1字节的内存区域,其中i是无符号整数,取值从0到CB;
c10)、以字节为单位将所述动态内存DM划分成连续的子动态内存DM(i),DM(i)表示地址在DMA+i,长度为1字节的内存所存储的值,其中i表示子内存空间相对于首地址的以字节为单位的偏移量,为无符号整数,取值从0到CB-1;
c11)、生成随机数种子;
c12)、定义计数器CNT,并初始化为0;
c13)、判断所述计数器CNT是否小于CB-1,如果满足则转向c15),否则转向c14);
c14)、利用计算机生产随机数,并将随机数拷贝到所述的子动态内存DM(CNT),并将计数器递加,跳转到c13);
c15)、输出动态内存DM上的二进制序列BSD,程序结束。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的基于动态内存的黑盒测试用例自动生成方法,其特征在于,所述步骤d)包括:
d0)、定义所述自定义结构体ISD的指针变量ISDP,所述指针变量ISDP中存储存放自定义结构体ISD数据的内存地址;
d1)、将所述首地址DMA赋给所述指针变量ISDP;
d2)、调用所述指针变量ISDP解析所述动态内存获取实例化的测试数据IID。
6.根据权利要求1、2、3、4或5所述的通用的黑盒测试用例自动生成方法,其特征在于,所述步骤e)所述筛选条件Fc为空。
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