[发明专利]一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统

权利要求书

1.一种双控存储系统的可靠性测试方法，其特征是：包括以下步骤：

设定执行测试的次数；

在存储系统状态正常的情况下，检测单个存储控制器工作时的状态；

生成测试记录文件。

2.根据权利要求1所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法，其特征是：所述存储系统包括两个存储控制器，所述存储系统状态正常的情况为两个存储控制器的当前状态均为active。

3.根据权利要求2所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法，其特征是：所述在存储系统状态正常的情况下，检测单个存储控制器工作时的状态的具体步骤为：

检测存储系统的状态是否正常；

如果存储系统的状态不正常，则退出测试；

如果存储系统的状态正常，则重启两个存储控制器中的其中一个存储控制器，并检测另一个存储控制器的工作状态，判断存储系统的可靠性。

4.根据权利要求3所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法，其特征是：所述重启两个存储控制器中的其中一个存储控制器，并检测另一个存储控制器的工作状态，判断存储系统的可靠性的具体步骤为：

S231，调用存储控制器重启命令，重启任一存储控制器，重启次数变量加1；

S232，在等待重启的存储控制器恢复至active状态的过程中，检测另一存储控制器的状态是否为active；

S233，如果另一存储控制器的状态不是active，则退出测试；

S234，如果另一存储控制器的状态是active，重新检测存储系统的状态是否正常，重复进行步骤S231至步骤S234的操作，直至重启次数变量大于所述设定执行测试的次数，退出测试。

5.根据权利要求1所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法，其特征是：所述测试记录文件中包括测试的结果信息和过程信息。

6.一种双控存储系统的可靠性测试系统，其特征是：包括

计数单元，用于设定测试次数并判断测试次数变量是否达到设定的测试次数；

状态检测单元，用于检测存储控制器的状态；

重启单元，用于重启存储控制器；

存储单元，用于记录并保存测试信息。

7.根据权利要求6所述的一种双控存储系统的可靠性测试系统，其特征是：所述状态检测单元包括第一状态检测模块和第一状态检测模块；所述第一状态检测模块用于在无存储控制器重启情况下，检测两个存储控制器状态；所述第二状态检测模块用于在两个存储控制器中的其中一个存储控制器重启情况下，检测另一个存储控制器的状态。