[发明专利]一种用于光电性质测量的夹持装置

说明书

本发明公开了一种用于光电性质测量的夹持装置，包括金属底座，金属底座的圆柱腔体上设置有检测光孔和导线引出洞孔，在金属底座内设置有螺纹孔洞；在金属底座内安装有若干组夹持组件，所述夹持组件包括样品夹持金属台座、金属垫片和金属螺柱，待测样品安装在样品夹持金属台座内且待测样品的下端面与金属垫片的尖端触头相接触，金属垫片安装在样品夹持金属台座下部，样品夹持金属台座的下端安装在金属螺柱上端，金属螺柱的下端安装在螺纹孔洞内。本发明能实现不同形状样品的夹持和测试，能实现样品正面和侧面的光电性质测试，变换样品放置方式可以实现所有待测面的光电性质的测试，而且结构简单、使用方便，具有性能稳定、成本低和使用方便的优点。

技术领域

本发明属于光学检测技术领域，具体涉及一种用于光电性质测量的夹持装置。

背景技术

光电性质测量是材料和器件研究过程中经常进行的工作之一。通常，待测样品小而薄，易裂易碎，这种特性对夹持器具提出了相应的要求：固定要牢固、测试过程中不碎裂。而现有夹具功能单一，测试过程中样品整体移动不灵活，调整样品的高度使之与光线平齐不方便，而且稳定性能没有达到最优。

发明内容

本发明要解决的是现有夹具功能单一，样品整体移动不灵活，调整样品的高度使之与光线平齐不方便，稳定性能差等技术问题，从而提供一种用于光电性质测量的夹持装置，本装置结构简单牢固、操作简便、使用寿命长，能完成样品的正确夹持和光电性质的测量。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案如下：

一种用于光电性质测量的夹持装置，包括金属底座，金属底座的圆柱腔体上设置有检测光孔和导线引出洞孔，在金属底座内设置有螺纹孔洞；在金属底座内安装有若干组夹持组件，所述夹持组件包括样品夹持金属台座、金属垫片和金属螺柱，待测样品安装在样品夹持金属台座内且待测样品的下端面与金属垫片的尖端触头相接触，金属垫片安装在样品夹持金属台座下部，样品夹持金属台座的下端安装在金属螺柱上端，金属螺柱的下端安装在螺纹孔洞内。

所述金属底座包括底板和圆柱腔体，圆柱腔体固定在底板上构成检测腔；在底板上对称设置有若干螺纹孔洞，螺纹孔洞位于检测腔内且螺纹孔洞的轴线与圆柱腔体的轴线相平行；在圆柱腔体的侧壁上对称设置有导线引出洞孔，导线引出洞孔的轴线与圆柱腔体的轴线垂直；在圆柱腔体的外壁上设置有检测光孔，检测光孔与检测腔相通，且检测光孔的轴线与导线引出洞孔的轴线垂直，检测光孔的轴线与螺纹孔洞的轴线垂直；在圆柱腔体的外壁与导线引出洞孔相对的位置垂直设置有支撑柱，支撑柱的轴线与导线引出洞孔的轴线平行。

在底板上设置有圆形孔洞，圆形孔洞位于圆柱腔体的中部位置，可以引出导线，也可以备用。

在支撑柱的自由端设置有外螺纹。支撑柱用于连接到测试台上支撑整个装置。

所述样品夹持金属台座，包括夹持定位块和夹持固定杆，夹持定位块固定在夹持定位杆上端，夹持定位块上设置有水平的夹持凹槽和螺钉限位孔，螺钉限位孔与夹持凹槽垂直相通。

所述金属垫片，包括垫片本体，在垫片本体的两端分别设置有定位安装孔和尖端触头，定位安装孔与样品夹持金属台座的夹持固定杆相配合；尖端触头与夹持凹槽内的待测样品下端面接触。

所述金属螺柱，包括螺柱帽和螺柱杆；螺柱帽固定在螺柱杆上端，且在螺柱帽上设置有定位安装槽，定位安装槽与样品夹持金属台座的夹持固定杆相对应；螺柱杆安装在金属底座的螺纹孔洞内。