[发明专利]ATE电源测试通道扩展结构及其测试应用方法有效
申请号: | 201710519260.3 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107144780B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 曾志敏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 郭四华 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ate 电源 测试 通道 扩展 结构 及其 应用 方法 | ||
1.一种ATE电源测试通道扩展结构,其特征在于,包括:多个电源测试通道,各所述电源测试通道包括多个电源扩展支路,各所述电源扩展支路的输入端连接对应的所述电源测试通道的输出端,各所述电源扩展支路的输出端连接一个被测器件;
各所述电源扩展支路包括:支路选择开关和过流保护电路;所述过流保护电路用于检测对应的所述电源扩展支路的电流大小,在所述电流扩展支路的电流正常时保持所述电源扩展支路和所述被测器件的连接;在所述电流扩展支路过流时断开所述电源扩展支路和所述被测器件的连接,防止过流的所述电流扩展支路将对应的所述电源测试通道的输出电压拉低从而影响连接同一所述电源测试通道的其它所述电源扩展支路的测试;
所述过流保护电路包括:过流检测电阻、过流检测比较器和过流保护开关;所述支路选择开关、所述过流检测电阻和所述过流保护开关串联连接,所述过流检测电阻在所述电源扩展支路的输入端和输出端之间形成一个电压降,所述过流检测比较器检测所述过流检测电阻的电压降的大小并根据所述过流检测电阻的电压降形成一个和参考电压比较的信号,所述过流检测比较器的输出端输出一个根据比较结果形成的控制信号到所述过流保护开关,所述过流保护开关在所述控制信号的控制下导通或断开;当所述电源扩展支路过流时所述过流检测电阻的电压降会超范围,所述控制信号使所述过流保护开关断开;当所述电源扩展支路的电流正常时所述过流检测电阻的电压降在正常范围,所述控制信号使所述过流保护开关保持导通;
所述过流检测比较器的正相输入端连接所述电源扩展支路的输出端,所述过流检测比较器的反相输入端连接参考电压;所述过流保护开关为低电平常开型开关;
当所述过流检测电阻的电压降在正常范围时,所述过流检测比较器的正相输入端的电压大于所述参考电压,所述控制信号为1,所述过流保护开关导通;
当所述过流检测电阻的电压降在超范围时,所述过流检测比较器的正相输入端的电压小于所述参考电压,所述控制信号为0,所述过流保护开关断开;
所述参考电压的公式为:Vref=Vcc-ΔVcc,Vref为所述参考电压,Vcc为所述电源测试通道的输出电压,ΔVcc为可容许误差,即在Vcc至Vcc-ΔVcc的范围内所述被测器件能进行正常测试;
所述过流检测电阻的最小值的公式为:Rmin=ΔVcc/Itrig;
所述过流检测电阻的最大值的公式为:Rmax=ΔVcc/Imax;
所述过流检测电阻的电阻大小在Rmin和Rmax之间皆可;
其中,Rmin为所述过流检测电阻的最小值,Rmax为所述过流检测电阻的最大值,Itrig为过流触发值,Imax为各所述被测器件在各种测试条件下的电流规格的最大值,Itrig大于Imax。
2.如权利要求1所述的ATE电源测试通道扩展结构,其特征在于:Itrig为Imax的3倍~5倍。
3.如权利要求1所述的ATE电源测试通道扩展结构,其特征在于:在ATE的初始化过程中,所述过流检测比较器的反相输入端连接一个初始化电压,所述初始化电压小于0V,使初始化过程中所述过流检测比较器的输出端输出大小为1的所述控制信号并使所述过流保护开关导通;
初始化完成后所述过流检测比较器的反相输入端连接到所述参考电压。
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