[发明专利]一种音叉晶体稳定度分析仪在审
申请号: | 201710519905.3 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN109212337A | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 廖书辉 | 申请(专利权)人: | 廖书辉 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R23/02;G01R31/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 441300 湖北省随*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制芯片 漏电流检测电路 频率稳定度 分析电路 音叉晶体 继电器 键盘电路 分析仪 稳定度 音叉 显示器 测试 比较分析 测试过程 测试数据 选择连接 振荡频率 控制口 漏电流 输出口 输入口 显示屏 | ||
一种音叉晶体稳定度分析仪,其特征在于:包括待测音叉、控制芯片、键盘电路和显示器,所述键盘电路与控制芯片的输入口连接,显示器与控制芯片的输出口连接,所述控制芯片的控制口连接有继电器,控制芯片还与漏电流检测电路和频率稳定度分析电路相连接,所述待测音叉通过继电器分别与漏电流检测电路、频率稳定度分析电路选择连接。本发明通过漏电流检测电路和频率稳定度分析电路测试音叉晶体的漏电流和振荡频率,并通过51单片机将测试数据和设定数据进行比较分析,而后在显示屏上给出分析结果,整个测试过程非常简单,测试精度高,结果一目了然。
技术领域
本发明涉及一种音叉测试装置,具体涉及一种音叉晶体稳定度分析仪。
背景技术
在石英晶体生产领域,需要对石英音叉晶体稳定度进行分析,避免产品在上机使用过程中失效,频率抖动等不良反应。为提高石英音叉晶体稳定性除了对其高温老化处理外,必须通过电气性能上的测试进行判别,剔除不稳定产品,使晶体能在不同电磁环境下正常使用。现阶段的音叉晶体生产领域没有专门的测试分析工具,测试手续繁琐,准确度也不高。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的缺陷和不足,提供一种操作简单、数据准确的音叉晶体稳定度分析仪。
为实现以上目的,本发明的技术解决方案是:一种音叉晶体稳定度分析仪,其特征在于:包括待测音叉、控制芯片、键盘电路和显示器,所述键盘电路与控制芯片的输入口连接,显示器与控制芯片的输出口连接,所述控制芯片的控制口连接有继电器,控制芯片还与漏电流检测电路和频率稳定度分析电路相连接,所述待测音叉通过继电器分别与漏电流检测电路、频率稳定度分析电路选择连接。
所述漏电流检测电路包括电压取样电阻、电压跟随电路、电压放大电路和A/D转换电路。
所述频率稳定度分析电路包括电压放大电路、D/A转换电路、小信号整流电路、加法电路、同相比例运算放大电路、自动增益同相比例运算放大电路、信号整形电路和频率计数电路。
所述控制芯片为51单片机。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
1、本发明通过漏电流检测电路和频率稳定度分析电路测试音叉晶体的漏电流和振荡频率,并通过51单片机将测试数据和设定数据进行比较分析,而后在显示屏上给出分析结果,整个测试过程操作简单,测试精度高,结果一目了然。
2、本发明采用51单片机作为控制芯片,这样做既满足了测试设备基本性能要求的同时也降低了设备的成本。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图中:待测音叉1,控制芯片2,键盘电路3,显示器4,继电器5,漏电流检测电路6,频率稳定度分析电路7,电压取样电阻8,电压跟随电路9,电压放大电路10,A/D转换电路11,电压放大电路12,D/A转换电路13,小信号整流电路14,加法电路15,同相比例运算放大电路16,自动增益同相比例运算放大电路17,信号整形电路18,频率计数电路19。
具体实施方式
以下结合附图说明和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
参见图1,一种音叉晶体稳定度分析仪,包括待测音叉1、控制芯片2、键盘电路3和显示器4,本发明使用性能好、体积小的51单片机作为分析仪的控制芯片,所述键盘电路3与控制芯片2的输入口连接,显示器4与控制芯片2的输出口连接,所述控制芯片2的控制口连接有继电器5,控制芯片2还与漏电流检测电路6和频率稳定度分析电路7相连接,所述待测音叉1通过继电器5分别与漏电流检测电路6、频率稳定度分析电路7选择连接。
所述漏电流检测电路6包括电压取样电阻8、电压跟随电路9、电压放大电路10和A/D转换电路11。
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