[发明专利]液晶显示面板的检测电路结构与液晶显示面板有效
申请号: | 201710523393.8 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107093391B | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 夏青;柴立 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶显示 面板 检测 电路 结构 | ||
1.一种液晶显示面板的检测电路结构,包括:
第一引线层,其具有多条信号引线;以及
第二引线层,其具有与所述多条信号引线分别对应的多条测试引线;
其中,在所述多条测试引线中,至少两条测试引线的第一端分别通过选通单元与其对应的信号引线相连接,选通单元位于通过选通单元与对应的信号引线相连接的测试引线的第一端和对应的信号引线的相连接处,其余测试引线的第一端分别与其对应的信号引线相连接;各测试引线的第二端均与用于输入测试信号的检测端子相连接;
所述选通单元被配置为:当与该选通单元连接的测试引线传输测试信号时被开启,以使所述测试引线与对应的信号引线电性连接;
所述选通单元包括薄膜晶体管,所述薄膜晶体管的栅极设置于所述第一引线层,所述薄膜晶体管的源极和漏极设置于所述第二引线层,所述薄膜晶体管的栅极接出与其同层设置的浮动金属块结构;所述薄膜晶体管的栅极与源极与所述测试引线相连接,所述薄膜晶体管的漏极与所述信号引线相连接,
其中,所述薄膜晶体管的栅极通过第一过孔与第一跨接引线连通,所述测试引线通过第二过孔与所述第一跨接引线连通,且所述第一跨接引线设置于液晶显示面板的透明电极层,
其中,所述信号引线通过第三过孔与第二跨接引线连通,所述薄膜晶体管的漏极通过第四过孔与所述第二跨接引线连通,且所述第二跨接引线设置于液晶显示面板的透明电极层;
其中,所述第一过孔、所述第二过孔、所述第三过孔、所述第四过孔的数量均为多个。
2.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,所述第一引线层与液晶显示面板的第一金属层同层,所述第二引线层与液晶显示面板的第二金属层同层。
3.根据权利要求2所述的检测电路结构,其特征在于,所述多条信号引线包括第一栅极引线、第二栅极引线、第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线,且对应于所述第一栅极引线与所述第二栅极引线的两条测试引线在布线上与所述第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线形成交叉跨线;
所述第一栅极引线与所述第二栅极引线分别通过所述选通单元与其对应的测试引线的第一端相连接。
4.根据权利要求2所述的检测电路结构,其特征在于,所述多条信号引线包括第一栅极引线、第二栅极引线、第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线,且对应于所述第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线的三条测试引线在布线上与所述第一栅极引线与第二栅极引线形成交叉跨线;
所述第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线分别通过所述选通单元与其对应的测试引线的第一端相连接。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的检测电路结构,其特征在于,对于所述其余测试引线,所述信号引线通过第五过孔与第三跨接引线连通,所述测试引线通过第六过孔与所述第三跨接引线连通,且所述第三跨接引线设置于液晶显示面板的透明电极层。
6.一种设置有如权利要求1至5中任一项所述的液晶显示面板的检测电路结构的液晶显示面板。
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