[发明专利]有源相控阵天线阵面可靠性试验方法有效
| 申请号： | 201710529602.X | 申请日： | 2017-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN107329126B | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 宁国鑫;陈猛;欧爱辉 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11526 | 代理人： | 高原 |
| 地址： | 214063 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 有源 相控阵 天线阵 可靠性 试验 方法 | ||
1.一种有源相控阵天线阵面可靠性试验方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤一，设天线全阵面由n个有源辐射阵元组成，当正常工作阵元个数小于k时，判定天线全阵面失效，k为所述天线全阵面正常工作阵元个数的最小值，所述天线全阵面的可靠性模型为冗余系统中的k/n表决模型，所述天线全阵面中单个阵元的故障率服从指数分布，所述天线全阵面的平均故障前时间MTTFs通过下述公式(1)获得：
其中λ为单个有源辐射阵元的故障率；
步骤二，确定替代阵面的有源辐射阵元的数量；
步骤三，算出所述替代阵面阵元数量和所述天线全阵面阵元数量之比α，则步骤二中确定的替代阵面的有源辐射阵元的数量为α*n，当所述替代阵面中正常工作阵元个数小于k＇时判定阵面失效，其中k＇为所述替代阵面正常工作阵元个数的最小值，所述替代阵面的可靠性模型为冗余系统中的k＇/(α*n)表决模型，所述替代阵面的平均故障前时间MTTF′s为：
根据公式(2)确定k＇的最小整数值，
MTTF′s≤MTTFs (2)；
步骤四，用阵元总数为α*n的替代阵面代替天线全阵面参与试验，当替代阵面的正常工作阵元个数小于k＇时，判定替代阵面失效，根据可靠性试验，当失效次数不超过允许次数时，判定试验通过，可以得出天线全阵面满足可靠性要求的结论。
2.根据权利要求1所述的天线阵面可靠性试验方法，其特征在于，步骤二中确定替代阵面的有源辐射阵元的数量的方式如下：当天线全阵面的阵元总数大于1000时，替代阵面的有源辐射阵元的数量为天线全阵面阵元总数的10％～20％；当天线全阵面的阵元总数大于100并小于等于1000时，替代阵面的有源辐射阵元的数量为天线全阵面阵元总数的20％～50％。
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