[发明专利]磁粉探伤机校准设备、方法以及装置在审
申请号: | 201710529917.4 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107228899A | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 曹戎;高存丽;张守亮;胡元元;李青泉 | 申请(专利权)人: | 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 |
主分类号: | G01N27/84 | 分类号: | G01N27/84;G01R19/25 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 赵囡囡,褚敏 |
地址: | 266111 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探伤 校准 设备 方法 以及 装置 | ||
技术领域
本发明涉及机械领域,具体而言,涉及一种磁粉探伤机校准设备、方法以及装置。
背景技术
磁粉探伤机一直作为一种探伤设备,采用季度性能检验的方法管理使用。后来出版了校准规范,但由于磁粉探伤机是固定安装式设备,无法送检,加之具备校准磁粉探伤机资质的校准机构较少,仅有的校准机构由于受校准设备的限制不能对所有探伤用途的磁粉探伤机进行校准。而目前市场上又没有成型的校准设备。
针对上述相关技术中对磁粉探伤机的校准存在无法进行有效校准的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种磁粉探伤机校准设备、方法以及装置,以至少解决相关技术中对磁粉探伤机的校准存在无法进行有效校准的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种磁粉探伤机校准设备,包括:电流测量装置和数据处理器,电流测量装置,用于采集通过罗氏线圈感应出的流经磁粉探伤机的探伤电流;数据处理器,用于根据采集到的探伤电流对磁粉探伤机的电流参数进行校准。
可选地,该磁粉探伤机校准设备还包括:模拟数字AD转换芯片,用于将电流测量装置采集到的探伤电流对应的模拟信号转化为支持采集的标准信号;虚拟仪器,用于将标准信号转化为探伤电流对应的数字信号。
可选地,探伤电流对应的频率范围为0-2OkHZ。
可选地,数据处理器,还用于根据探伤电流确定磁粉探伤机的磁化电流示值误差,根据确定的磁化电流示值误差对磁粉探伤机的电流参数进行校准。
根据本发明实施例的另外一个方面,还提供了一种磁粉探伤机校准方法,包括:采集通过罗氏线圈感应出的流经磁粉探伤机的探伤电流;根据采集到的探伤电流对磁粉探伤机的电流参数进行校准。
可选地,在根据采集到的所述探伤电流对所述磁粉探伤机的电流参数进行校准之前,还包括:将电流测量装置采集到的探伤电流对应的模拟信号转化为支持采集的标准信号;将标准信号转化为探伤电流对应的数字信号。
可选地,探伤电流对应的频率范围为0-2OkHZ。
可选地,根据采集到的探伤电流对磁粉探伤机的电流参数进行校准包括:根据探伤电流确定磁粉探伤机的磁化电流示值误差;根据确定的磁化电流示值误差对磁粉探伤机的电流参数进行校准。
根据本发明实施例的另外一个方面,还提供了一种磁粉探伤机校准装置,包括:采集单元,用于采集通过罗氏线圈感应出的流经磁粉探伤机的探伤电流;校准单元,用于根据采集到的探伤电流对磁粉探伤机的电流参数进行校准。
可选地,该磁粉探伤机校准装置还包括:第一转化单元,在根据采集到的所述探伤电流对所述磁粉探伤机的电流参数进行校准之前,用于将电流测量装置采集到的探伤电流对应的模拟信号转化为支持采集的标准信号;第二转化单元,用于将标准信号转化为探伤电流对应的数字信号。
可选地,探伤电流对应的频率范围为0-2OkHZ。
可选地,校准单元包括:确定模块,用于根据探伤电流确定磁粉探伤机的磁化电流示值误差;校准模块,用于根据确定的磁化电流示值误差对磁粉探伤机的电流参数进行校准。
根据本发明实施例的另外一个方面,还提供了一种存储介质,存储介质包括存储的程序,其中,程序执行上述中任意一项的磁粉探伤机校准方法。
根据本发明实施例的另外一个方面,还提供了一种处理器,处理器用于运行程序,其中,程序运行时执行上述中任意一项的磁粉探伤机校准方法。
在本发明实施例中,利用电流测量装置采集通过罗氏线圈感应出的流经磁粉探伤机的探伤电流;与上述电流测量装置连接的数据处理器根据采集到的探伤电流对磁粉探伤机的电流参数进行校准。由于利用电流测量装置采集通过罗氏线圈感应出的流经磁粉探伤机的探伤电流,有效减小了相关技术中在对磁粉探伤机进行校准时,由于磁粉探伤电流大、电流种类繁多等导致的对磁粉探伤机的校准困难的弊端,进而解决了相关技术中对磁粉探伤机的校准存在测量精度低、测量困难的技术问题,提高了对磁粉探伤机的校准的准确性以及校准的效率。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是根据本发明实施例的磁粉探伤机校准设备的示意图;
图2是根据本发明实施例的磁粉探伤机校准方法的流程图;
图3是根据本发明实施例的磁粉探伤机校准装置的示意图;
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