[发明专利]存储设备、用于测试该存储设备的测试系统及方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年8月4日递交的韩国专利申请No.10-2016-0099603的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本文描述的实施例涉及一种存储设备、测试存储设备的测试系统及其测试方法。

背景技术

目前，正在开发多端口形式的存储设备，以提高使用效率。传统测试设备通过以下方式执行测试操作，即，通过依次使用多端口存储设备的端口(而不是同时使用其所有端口)以最小传输速度或更低的速度执行操作。此外，传统测试设备无法以硬件/软件访问多个端口。

发明内容

实施例包括一种测试系统的方法，该测试系统包括主机设备和至少一个存储设备，所述至少一个存储设备的多个端口通过多端口连接而连接到主机设备，所述方法包括：在主机设备处由测试程序发出第一命令；在主机设备处由设备驱动器响应于第一命令而产生多个第二命令；以及由主机设备将所述多个第二命令同时传送到所述至少一个存储设备中的每个存储设备。

实施例包括一种存储设备，其包括：第一端口；第二端口；至少一个非易失性存储器件；第一存储器控制器，连接到第一端口并被配置为控制所述至少一个非易失性存储器件的至少第一部分；以及第二存储器控制器，连接到第二端口并被配置为控制所述至少一个非易失性存储器件的至少第二部分，其中，在测试操作期间：第一存储器控制器被配置为通过第一端口接收第一命令，并响应于第一命令来控制所述至少一个非易失性存储器件的所述至少第一部分；以及第二存储器控制器被配置为在第一存储器控制器接收第一命令的同时通过第二端口接收第二命令，并响应于第二命令来控制所述至少一个非易失性存储器件的所述至少第二部分。

实施例包括一种测试系统，其包括：主机设备；以及多个被测设备(DUT)，每个被测设备通过多端口连接而连接到主机设备，其中，所述主机设备包括：中央处理单元；以及连接中央处理单元和DUT的主机总线适配器，其中，在测试操作期间，主机设备被配置为将第一命令传送到每个DUT的第一端口，同时将第二命令传送到每个DUT的第二端口。

实施例包括一种存储设备的测试方法，该方法包括：通过第一端口接收第一命令；在接收第一命令的同时通过第二端口接收第二命令；响应于第一命令而测试第一存储器；以及在测试第一存储器的同时，响应于第二命令而测试第二存储器。

实施例包括一种测试系统，其包括：多个端口；处理器，被配置为：产生第一测试命令；响应于第一测试命令而产生多个第二测试命令；以及通过所述端口中的多个端口将所述多个第二测试命令中的每一个同时发送到多个被测设备(DUT)中的每一个。

附图说明

将参考以下附图描述实施例，其中除非另有说明，否则相同的附图标记在各个附图中表示相同的部件，并且其中：

图1是示出了根据实施例的测试系统的图；

图2A和图2B是示出了根据一些实施例的各自具有双端口的连接器的视图；

图3是示出了根据实施例的测试系统的软件架构的图；

图4是示意性地示出了根据实施例的测试程序产生双端口命令的方法的图；

图5是示出了根据实施例的由测试程序产生的命令的结构的图；

图6是示出了根据实施例的处理双端口命令的过程的图；

图7是示出了根据实施例的双端口固态驱动器(SSD)的框图；

图8是示出了根据另一实施例的双端口SSD的框图；

图9是示出了根据实施例的主机设备的命令产生方法的图；

图10是示出了根据实施例的双端口SSD的测试方法的图；

图11是示出了根据另一实施例的测试系统的图；以及

图12是示出了应用了根据实施例的存储设备的数据服务器系统的图。

具体实施方式

现在将参考附图描述实施例。在一些实施例中，存储设备可以包括多端口存储设备，并且可以被配置为通过多个端口执行测试操作，从而减少测试时间并提高测试效率。

图1是示出了根据实施例的测试系统10的图。参考图1，测试系统10可以包括主机设备100和多个被测设备(以下称为“DUT”)210、220、...、2N0(N为2或大于2的整数)。尽管示出了三个DUT，但是可以存在任意数量的DUT。

主机设备100可以包括中央处理单元(CPU)110和主机总线适配器(HBA)120。例如，主机设备100可以是计算设备。