[发明专利]一种PCIE外插卡功耗的监控测量系统和方法

权利要求书

1.一种PCIE外插卡功耗的监控测量系统，其特征在于，所述PCIE外插卡功耗的监控测量系统包括测量治具和示波器，所述测量治具串接在服务器主板与PCIE外插卡之间，所述示波器与所述测量治具连接；

所述示波器通过所述测量治具对所述PCIE外插卡的电压和电流参数进行同时测量，并根据测量的电压和电流参数计算测量过程中瞬时功率的最大值和最小值；

所述示波器对服务器所处的各种状态下的瞬时功耗的变化进行统计，生成用于全过程数据比对分析的矩阵列表。

2.根据权利要求1所述的PCIE外插卡功耗的监控测量系统，其特征在于，所述测量治具设有上行PCIE接口、下行PCIE接口、12V电流采样线圈、3.3V电流采样线圈、12V电压测量点和3.3V电压测量点，所述上行PCIE接口与服务器主板连接，所述下行PCIE接口与PCIE外插卡连接。

3.根据权利要求2所述的PCIE外插卡功耗的监控测量系统，其特征在于，所述示波器设有电流探头C1、电流探头C2、电压探头C3和电压探头C4；

所述电流探头C1、电流探头C2分别接在所述测量治具的12V电流采样线圈、3.3V电流采样线圈上；

所述电压探头C3、电压探头C4分别接在所述测量治具的12V电压测量点和3.3V电压测量点。

4.根据权利要求3所述的PCIE外插卡功耗的监控测量系统，其特征在于，所述测量治具的规格类型包括上行PCIEx16转下行PCIEx16、上行PCIEx16转下行PCIEx8、上行PCIEx16转下行PCIEx4、上行PCIEx8转下行PCIEx8、上行PCIEx8转下行PCIEx4和上行PCIEx4转下行PCIEx4。

5.根据权利要求4所述的PCIE外插卡功耗的监控测量系统，其特征在于，所述服务器所处的各种状态包括服务器开机过程、待机过程、PCIE卡压力读写和关机过程。

6.一种PCIE外插卡功耗的监控测量方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

示波器通过测量治具对PCIE外插卡的电压和电流参数进行测量，并根据测量的电压和电流参数计算测量过程中瞬时功率的最大值和最小值；

所述示波器对服务器所处的各种状态下的瞬时功耗的变化进行统计，生成用于全过程数据比对分析的矩阵列表；

其中，所述测量治具串接在服务器主板与PCIE外插卡之间，所述示波器与所述测量治具连接。

7.根据权利要求6所述的PCIE外插卡功耗的监控测量方法，其特征在于，所述示波器通过测量治具对所述PCIE外插卡的电压和电流参数进行测量的步骤具体包括下述步骤：

所述示波器的电流探头C1、电流探头C2分别接在所述测量治具的12V电流采样线圈、3.3V电流采样线圈上，对所述PCIE外插卡的电流参数进行测量；

所述示波器的电压探头C3、电压探头C4分别接在所述测量治具的12V电压测量点和3.3V电压测量点上，对所述PCIE外插卡的电压参数进行测量；

其中，所述测量治具设有上行PCIE接口、下行PCIE接口、12V电流采样线圈、3.3V电流采样线圈、12V电压测量点和3.3V电压测量点，所述上行PCIE接口与服务器主板连接，所述下行PCIE接口与PCIE外插卡连接；

所述示波器设有电流探头C1、电流探头C2、电压探头C3和电压探头C4。

8.根据权利要求7所述的PCIE外插卡功耗的监控测量方法，其特征在于，所述方法还包括下述步骤：

所述示波器根据测量到的电压参数和电流参数，计算平均功耗。

9.根据权利要求8所述的PCIE外插卡功耗的监控测量方法，其特征在于，所述测量治具的规格类型包括上行PCIEx16转下行PCIEx16、上行PCIEx16转下行PCIEx8、上行PCIEx16转下行PCIEx4、上行PCIEx8转下行PCIEx8、上行PCIEx8转下行PCIEx4和上行PCIEx4转下行PCIEx4。

10.根据权利要求9所述的PCIE外插卡功耗的监控测量方法，其特征在于，所述服务器所处的各种状态包括服务器开机过程、待机过程、PCIE卡压力读写、关机过程。