[发明专利]一种基于感性耦合原理的元器件在线特性测量方法及测量装置有效

专利信息
申请号: 201710532572.8 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN107390051B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 李兴明;高加林;曾大治 申请(专利权)人: 北京理工雷科电子信息技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/02;G01R27/26
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 刘芳;仇蕾安
地址: 100081 北京市海淀区中关*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 感性 耦合 原理 元器件 在线 特性 测量方法 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种基于感性耦合原理的元器件在线特性测量方法,其特征在于,具体过程为:

步骤一,将VNA上的两个端口Port1、Port2分别通过同轴线缆连接注入探针、拾取探针,VNA上的端口Port3通过同轴线缆连接SMA连接器;

步骤二,串接导线一端接至SMA连接器的中间信号管脚,另一端接至SMA连接器的四个地管脚之一,构成预校准装置;通过注入探针、拾取探针与串接导线的感性耦合,实现预校准装置S参数测试;

步骤三,令VNA上的端口Port3开路,将串接导线、注入探针及拾取探针置于待测元器件电路环路中,构成测试装置;通过注入探针、拾取探针与串接导线的感性耦合,实现测试装置S参数测试;

步骤四,根据预校准装置和测试装置所测得的S参数,拟合得出待测器件的在线特性。

2.根据权利要求1所述基于感性耦合原理的元器件在线特性测量方法,其特征在于,所述步骤四的具体过程为:

首先,根据预校准装置和测试装置所测得的S参数,计算待测元器件在线频域阻抗测试Zdut

Zdut=S31S23+(1+S33)(S^21-S21)S31S23+(S33-1)(S^21-S21)---(4)]]>

其中,Smn为预校准装置S参数中第m行第n列的元素,S^mn为测试装置S参数中第m行第n列的元素;

其次,根据所述测元器件在线频域阻抗测试Zdut,根据DUT的电器模型拟合出期间的在线特性。

3.一种多层陶瓷电容的直流电压偏置特性测量装置,其特征在于,包括直流电源DC、电感Ls、2个待测多层陶瓷电容Cdut、VNA及串接导线,其中两个待测多层陶瓷电容Cdut并联后的一端通过电感Ls连接直流电源DC,并联后的另一端直接连接直流电源DC,串接导线串接在两个待测多层陶瓷电容Cdut之间,VNA上的注入探针、拾取探针与所述串接导线耦合连接;

ZCdut<<ZLs+ZVRM(5)

其中,ZCdut和ZLs为待测多层陶瓷电容Cdut和电感Ls的频域阻抗,ZVRM为直流电源的频域阻抗。

4.一种电感的直流电压偏置特性测量装置,其特征在于,包括待测电感Ldut、直流电源DC、负载RL、电容C0、VNA及串接导线,电容C0连接在直流电源DC的两端、待测电感Ldut与负载RL串联后连接在直流电源DC的两端;串接导线串接在待测电感Ldut与负载RL之间,VNA上的注入探针、拾取探针与所述串接导线耦合连接;

ZLdut>>zVRM*zC0zVRM+zC0---(6)]]>

这里,ZLdut和ZC0为待测电感Ldut和电容C0的频域阻抗,ZVRM为直流电源的频域阻抗。

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