[发明专利]一种基于多端口ABCD参数的系统特性分析方法有效
申请号: | 201710532591.0 | 申请日: | 2017-07-03 |
公开(公告)号: | CN107390052B | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 李兴明;高加林;曾大治 | 申请(专利权)人: | 北京理工雷科电子信息技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 11120 北京理工大学专利中心 | 代理人: | 刘芳;仇蕾安 |
地址: | 100081 北京市海淀区中关*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 多端 abcd 参数 系统 特性 分析 方法 | ||
本发明提供一种基于多端口ABCD参数的系统特性分析方法,该系统包括m个输入端口和n个输出端口,N=m+n,具体为:测量多端口系统的Z参数MZ;基于所述Z参数,计算多端口系统的ABCD参数;基于所述ABCD参数分析多端口系统的特性。该方法以端口的电压和电流作为参量表征多端口系统的特性,克服了多端口T参数的应用局限,为涉及端口电压和电流的电子系统分析及设计提供了更准确、更有效的解决方案。
技术领域
本发明属于电子系统分析及设计技术领域,具体涉及一种基于多端口ABCD 参数的系统特性分析方法。
背景技术
在电子系统设计领域,网络参数理论被广泛应用于系统分析,其中包括很多网络参数类型,如散射参数(S)、阻抗参数(Z)、导纳参数(Y)、传输参数(T)、 ABCD参数等。其中,S、T参数以端口入射波和反射波为关注参量,而Z、Y、 ABCD参数以端口的电压和电流为关注参量,这些参数采用不同参量、从不同角度对系统特性进行表征,为系统分析提供依据。
随着电子系统的复杂度不断提升,影响系统特性的因素变得错综复杂,使得通过整体分析获得系统特性变得异常艰难,取而代之的是将系统进行有效的分解并获取模块化特性,然后再重新组合获得系统特性。在这其中,去嵌入和级联技术是系统分解和模块组合的关键技术和难题。
对于双端口网络,利用双端口的T或者ABCD参数均可以实现去嵌入和级联,但是对于多端口网络,多端口的T参数几乎是实现去嵌入和级联的唯一手段。即便如此,多端口的T参数仍然存在一定的应用局限性,即T参数本身引用端口入射和反射波作为关注参量,因此在分析关注端口电压和电流的电子系统时需要进行繁琐的参量转换,从而增加运算复杂度和系统分析难度。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供一种基于多端口ABCD参数的系统特性分析方法,其以端口的电压和电流作为参量,表征多端口系统的特性。
实现本发明的技术方案如下:
一种基于多端口ABCD参数的系统特性分析方法,该系统包括m个输入端口和n个输出端口,N=m+n,具体为:
测量多端口系统的Z参数MZ;
基于所述Z参数,根据式(5)计算多端口系统的ABCD参数;
基于所述ABCD参数分析多端口系统的特性。
一种基于多端口ABCD参数的系统特性分析方法,该系统包括m个输入端口和n个输出端口,N=m+n,具体为:
基于多端口系统的ABCD参数MABCD,根据所述式(7)计算表征多端口系统特性的Z参数
基于所述Z参数分析多端口系统的特性。
一种基于多端口ABCD参数的系统特性分析方法,该方法所针对的系统为由多个输入输出子系统级联构成,包括m个输入端口和n个输出端口,N=m+n,具体过程为:
步骤一:判断表征各子系统特性的ABCD参数是否已知,若是,进入步骤三,否则进入步骤二;
步骤二:测量未知ABCD参数的子系统的Z参数Mz,根据式(5)计算其对应的ABCD参数;
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