[发明专利]基于样点邻域同构曲面的散乱点云曲率估算方法在审

专利信息
申请号: 201710540394.3 申请日: 2017-07-05
公开(公告)号: CN107610232A 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 孙殿柱;薄志成;李延瑞;张硕 申请(专利权)人: 山东理工大学
主分类号: G06T17/20 分类号: G06T17/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 255086 山东省淄*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 基于 邻域 同构 曲面 散乱 曲率 估算 方法
【权利要求书】:

1.一种基于样点邻域同构曲面的散乱点云曲率估算方法,其特征在于对采样点集S中任一样点p,曲率估算的步骤依次为:(1)求取p的邻域点集并进行局部重建,获得局部重建网格(2)基于样点一阶邻域面,估计中任一样点法向;(3)初步估算中任一样点的高斯曲率和平均曲率;(4)计算目标样点p至邻域点集中任一样点的近似测地距离,并基于高斯权重精确估算高斯曲率和平均曲率。

2.根据权利要求1所述的基于样点邻域同构曲面的散乱点云曲率估算方法,其特征在于步骤(1)中,为获得插值于采样点集的高质量Delaunay三角网格曲面,依据局部平坦程度,采用二维Delaunay网格剖分与三维Delaunay网格过滤相结合的策略重建局部样本,局部重建算法的具体流程如下:(1)搜索p的kη邻域,获得局部重建样本λ(p);(2)搜索p的kζ邻域点集,获得在中,若且则将pi标记为辅助点;(3)对中样点进行共面检测,若共面,则对进行二维Delaunay网格剖分,输出剖分的局部重建网格,程序结束;(4)对进行三维Delaunay网格剖分,获得四面体集合并求出对应的Voronoi图(5)对中任一面片Ti进行夹角检测,若检测未通过,则将Ti从中删除,否则保留;(6)对进行流形提取,输出局部重建网格,程序结束;在上述步骤(5)中,对Ti进行夹角检测的具体流程如下:(1)提取面片Ti的顶点{p1,p2,p3};(2)检测每个顶点的标记,若三个顶点中存在辅助点,则该面片未通过检测,程序结束;(3)获取面片Ti对偶Voronoi边的端点v1、v2;(4)对于顶点p1,计算Voronoi单元中与其距离最远的Voronoi顶点,并将由p1指向该顶点的向量记为np1;(5)计算p1v1和p1v2与np1的夹角θ1和θ2,其中θ1←∠(p1v1,np1),θ2←∠(p1v2,np1),对于给定阈值θp,若θ1与θ2均小于θp,或θ1与θ2均大于π-θp,则该面片未通过检测,对p2和p3进行相同操作。

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