[发明专利]一种磁共振射频线圈调节方法、磁共振扫描系统及介质有效
申请号: | 201710541438.4 | 申请日: | 2017-07-05 |
公开(公告)号: | CN107356892B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 车韶;黄文慧 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/36 | 分类号: | G01R33/36;G01R33/54 |
代理公司: | 11332 北京品源专利代理有限公司 | 代理人: | 孟金喆<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁共振 射频 线圈 调节 方法 扫描 系统 介质 | ||
1.一种磁共振射频线圈调节方法,其特征在于,包括:
步骤a、获取磁共振射频线圈接收到的射频信号,所述射频线圈包括多个射频线圈单元;
步骤b、根据所述射频信号,计算所述射频线圈单元之间的耦合性关联参数;
步骤c、根据所述耦合性关联参数,将满足预设条件对应的线圈单元调节为失谐;
其中,步骤c包括:
当所述耦合性关联参数为两个线圈单元的中心距离,将满足预设条件的所述中心距离对应的两个线圈单元中的任意一个线圈单元调节为失谐状态;
和/或
当所述耦合性关联参数为噪声相关性矩阵中的非对角项的值,将满足预设条件的所述非对角项对应的两个线圈单元中的任意一个线圈单元调节为失谐状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述射频信号为成像数据;所述耦合性关联参数为两个线圈单元的中心距离;
所述步骤a包括:
根据定位像扫描,获取所述成像数据;
所述步骤b包括:
根据所述成像数据,获取所述射频线圈单元的亮度分布数据;
根据所述射频线圈单元的所述亮度分布数据计算线圈单元中心位置,并确定两个线圈单元的中心距离;
所述步骤c包括:
当所述中心距离小于第一预设阈值时,调节所述中心距离对应的两个线圈单元中的任意一个线圈单元为失谐状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述射频信号为噪声数据;所述耦合性关联参数为噪声相关性矩阵中的非对角项的值;
所述步骤a包括:
根据噪声预扫描,获取线圈单元的噪声数据;
所述步骤b包括:
根据所述噪声数据,计算线圈单元之间的噪声相关性矩阵;
所述步骤c包括:
当所述噪声相关性矩阵中非对角项的值大于第二预设阈值时,调节所述非对角项对应的两个线圈单元中的任意一个线圈单元为失谐状态。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:根据噪声预扫描得到的线圈单元的噪声数据,计算线圈单元之间的噪声相关性矩阵,所述步骤c包括:当所述中心距离大于第一预设阈值时,当所述噪声相关性矩阵中非对角项的值大于第二预设阈值时,调节所述非对角项对应的两个线圈单元中的任意一个线圈单元为失谐状态。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:根据噪声预扫描得到的线圈单元的噪声数据,计算线圈单元之间的噪声相关性矩阵,所述步骤c包括:当所述中心距离和所述中心距离对应的两个线圈单元在噪声相关性矩阵中的噪声相关性数值的加权满足预设条件时,调节所述两个线圈单元中的任意一个线圈单元为失谐状态。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述计算线圈单元之间的噪声相关性矩阵包括:
根据欧氏距离或夹角余弦的方法,计算线圈单元之间的噪声相关性矩阵。
7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二预设阈值大于等于0.3且小于1。
8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述线圈单元的所述亮度分布数据计算线圈单元中心位置,并确定两个线圈单元的中心距离包括:
根据所述亮度分布数据中的数据点的位置、所述数据点的亮度值和总亮度值,计算所述线圈单元中心位置;
根据所述中心位置,确定两个线圈单元的中心距离。
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